當前位置:> 供求商機> FS-GA3-光譜儀掃描式的OLED器件壽命測試
系統概述
硅光電壽命測試機臺提供了一種經濟型的OLED器件壽命測試方式,但受限于硅光電對于可見光光譜的響應曲線與CIE的人眼視覺函數不能*匹配,當器件在壽命衰減過程中光譜形狀發生變化,或光譜波峰發生偏移時,其測得的相對亮度值就不在準確。
為了能測出OLED器件和亮度絕對值、色度和光譜在衰減過程中的變化,弗士達公司開發了光譜儀掃描式的OLED器件壽命測試方案。將分光輻射亮度計安裝于XYZ自動移動軸上,分別掃描每個器件發光點的亮度色度和光譜數據,得到器件在壽命衰減過程中的亮度、色度和光譜隨時間的變化曲線。
系統組成
1.FS-GA3機臺,包括三軸直線移動控制模塊
2.分光輻射亮度計
3.自動視覺對位工業相機
4.多通道定電壓或定電流輸出壽命測試電源;
5.多通道電壓電流測量Keithley3706A;
6.多套器件測試治具,可選常溫或獨立溫控。
7.OLED器件壽命測量軟件
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