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光譜儀掃描式的OLED器件壽命測(cè)試方案。將分光輻射亮度計(jì)安裝于XYZ自動(dòng)移動(dòng)軸上，分別掃描每個(gè)器件發(fā)光點(diǎn)的亮度色度和光譜數(shù)據(jù)，得到器件在壽命衰減過(guò)程中的亮度、色...

硅光電式OLED器件高溫壽命測(cè)試系統(tǒng)夾具底部帶有加熱板，利用高溫加速OLED器件的老化，進(jìn)行設(shè)定的高溫條件下的器件壽命測(cè)試。

環(huán)境溫濕度控制下的OLED器件壽命測(cè)試根據(jù)用戶不同溫濕度環(huán)境測(cè)試需求，可增加高溫箱、高低溫箱、恒溫恒濕箱等，對(duì)器件的壽命測(cè)試環(huán)境進(jìn)行控制。其溫度控制范圍、濕度控...

多片OLED器件IVL+視角測(cè)量主要應(yīng)用于OLED材料和OLED屏體生產(chǎn)工廠，滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度視角特性測(cè)試需求。

硅光電式OLED器件常溫壽命測(cè)試系統(tǒng)可以測(cè)量OLED器件在恒壓，恒流等條件下的亮度衰減情況。

OLED柔性屏光學(xué)測(cè)量及光學(xué)測(cè)量產(chǎn)品概述：1.機(jī)械應(yīng)力測(cè)試：機(jī)臺(tái)進(jìn)行拉伸、扭曲、彎折等機(jī)械應(yīng)力測(cè)試，參照IEC標(biāo)準(zhǔn)。軟件可控制拉伸距離、往返次數(shù)、拉伸速度；扭曲...

多片OLED模組壽命測(cè)量FS-GA OLED壽命和光學(xué)特性自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)是弗士達(dá)公司研發(fā)的用于多片OLED模組或Panel壽命測(cè)試的機(jī)臺(tái)。

OLED多片CELL壽命測(cè)量系統(tǒng)主要應(yīng)用于多片OLED手機(jī)或平板panel屏的壽命衰減測(cè)試。

多片OLED器件IVL測(cè)量主要應(yīng)用于OLED材料和OLED屏體生產(chǎn)廠家，滿足客戶大批量的OLED器件的IVL特性和亮度視角特性測(cè)試需求。OLED發(fā)光器件的IVL...

單片OLED器件IVL測(cè)量對(duì)于OLED科研類機(jī)構(gòu)用戶，僅考慮測(cè)試功能和精度，不考慮測(cè)試效率的情況下，可選擇單工位的IVL及視角測(cè)試系統(tǒng)。與多工位機(jī)臺(tái)相比，僅保留...

緊湊型手套箱式OLED器件IVL及視角測(cè)試三軸直線移動(dòng)+一軸夾具旋轉(zhuǎn)IVL測(cè)試機(jī)臺(tái)的尺寸設(shè)計(jì)緊湊，可置于手套箱內(nèi)進(jìn)行器件的IVL和視角測(cè)試。測(cè)量功能：IVL及余...