硅光電式OLED器件高溫壽命測試

系統概述
高溫測試系統利用高溫加速OLED器件的老化，進行設定好的高溫條件下的器件壽命測試。溫控系統分為chamber溫控、底板加熱溫控。

chamber加熱溫控范圍：±20℃ - 100 ℃

底板加熱溫控范圍： 室溫 - 100 ℃
溫度精度： ±1℃，溫度波動±0.2℃

軟件功能
（1） 測量模式：恒壓、恒流、方波電流、方波電壓
（2） 測量數據：測量時間、樣品信息、電流、電壓、光感電壓、預估壽命、亮度衰減比、溫度
（3） 測量圖表：衰減比實時電流/電壓/衰減曲線
（4） 測量時間：三個時間段設計，每個時間段可以分別設置測量時間間隔等參數
（5） 發光點測量的獨立性：每個發光點可以獨立設置電壓或電流等參數，共有96組電壓和96組電流輸出,以及96組電流和電壓的獨立測量
（6） 光學壽命測量時,每個發光點可以獨立開始和停止測量,每個發光點均可設置獨立的三段測試時間和間隔.支持用戶在測試過程中,增加或更換其中幾片產品
（7） 圖表實時查詢：支持圖表在測量過程中實時查詢，不必等待測量結束后再看數據和圖表
（8） 曲線圖：支持選擇電壓、電流、亮度衰減、壽命時長等數據，在圖表里顯示曲線。
（9） 測量前預處理功能：可以設定的需要預處理的溫度值、電流、電壓值和時間等參數，正常測量前先以預處理條件進行老化，然后再進 入正常壽命測試程序。
（10） 數據實時存儲，異常恢復后可找回數據并繼續測試（中斷的時間不累積，能自動減除）
（11） Datalog及Eventlog實時記錄