首頁 >> 供求商機
SID4-SWIR-HR 高分辨率短波紅外波前傳感器
【SID4-SWIR-HR波前傳感器 簡介】
隨著光波波前探測技術的發展，各種波前傳感器應運而生。從測量原理上可以分成兩類：一類是根據幾何光學原理，測定波前幾何像差或面型誤差，主要有Shack－Hartmann 波前傳感器，曲率傳感器和Pyramid 波前傳感器等；另一類是基于干涉測量原理，探測波前不同部分的干涉性，來獲取波前信息，主要有剪切干涉儀波前傳感器和相位獲取傳感器等。剪切干涉儀波前傳感器不需要精確的參考標準鏡;SID4-SWIR-HR波前傳感器結構簡單，抗干擾能力強，條紋穩定。它是測量光學元件和光束波前質量的一種很好的替代傳統干涉儀的方法。SID4-SWIR-HR波前傳感器將Phasics的四波剪切技術與InGaAs探測器結合在一起。 憑借其超高取樣分辨率（160 x 128相位取樣點）和高靈敏度，它提供了從900 nm到1.7μm波段的高精度波前測量。 SID4-SWIR-HR波前傳感器是一種創新的解決方案，可用于檢測空間光通信、測試儀表、夜視系統或監控設備中使用的短波紅外光學系統。
【關于Phasics】
Phasics是一家專注于高分辨率波前傳感技術的法國公司。Phasics公司憑借其在測量方面的專業經驗與*的波前測量技術為客戶提供全面的高性能波前傳感器。
一、 SID4-SWIR-HR 高分辨率短波紅外波前傳感器主要特點
覆蓋 0.9 to 1.7µm 短波紅外波段
160 x 128 高相位分辨率
高感光靈敏度 - 可適用于低功率紅外光源測試
非準直光入射
消色差
二、SID4-SWIR-HR 波前傳感器產品應用
激光| 自適應光學及等離子體檢測| 光學元件及光學系統計量
三、SID4-SWIR-HR 波前傳感器測量案例
| 氣體和等離子體密度
高靈敏度（噪聲比 Mach-Zehnder 干涉儀低 8 倍）
在低氣壓下測量精度高
重復測量的均勻性高
| 自適應光學系統,可適配任何變形鏡
望遠鏡像差消除
3D動態指向
四、SID4-SWIR-HR 波前傳感器主要規格
| 波長范圍 | 0.9-1.7 μm |
| 靶面尺寸 | 9.60 x 7.68 mm2 |
| 空間分辨率 | 60 µm |
| 取樣分辨率 | 160 x 128 |
| 相位分辨率 | 2 nm RMS |
| 絕對精度 | 15 nm RMS |
| 采集速率 | 100 fps |
| 實時處理速度 | 7 fps (全分辨率下) |
五、與夏克-哈特曼波前傳感器對比
六、更多參數選型
9