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相位偏折測量系統 參考價：面議
相位偏折測量系統相位偏折術或條紋反射法，是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測量技術,絕對檢測精度可達10-20nm RMS,可以用于平面、球面、非球...
光譜透過率測量系統 參考價：面議
光譜透過率測量系統:AUT GPS-200推出的?套光譜透過率測試系統，通過光譜儀與均勻光源組成透過率測量系統，幫助客戶對光學玻璃、濾光?、膜層、顯示屏（OLE...
光學視角檢測儀—顯示測量 參考價：面議
光學視角檢測儀—顯示測量，ELDIM制造基于傅里葉光學的光學視角檢測儀已經超過25年了?；?的光學設計，可以控制系統的角孔徑與測量光斑大小相獨立，可以實現非常...
Mprobe 20 薄膜測量系統 （單點測量） 參考價：面議
Mprobe 20 薄膜測量系統 （單點測量）是一款桌面式單點薄膜厚度測量系統，只需點擊鼠標薄膜厚度和折射率測量，測量厚度范圍1nm-1mm.
光腔衰蕩光譜測量系統 參考價：面議
光腔衰蕩光譜方法（CRDS， Cavity Ring-Down Spectroscopy）是一種基于高精細度諧振腔的高靈敏度探測技術，主要用于精確測量各種反射率...
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