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SID4-eSWIR 短波紅外波前傳感器(波前分析儀)
【SID4-eSWIR簡介】
隨著光波波前探測技術的發(fā)展，各種波前傳感器應運而生。從測量原理上可以分成兩類：一類是根據(jù)幾何光學原理，測定波前幾何像差或面型誤差，主要有Shack－Hartmann 波前傳感器，曲率傳感器和Pyramid 波前傳感器等；另一類是基于干涉測量原理，探測波前不同部分的干涉性，來獲取波前信息，主要有剪切干涉儀波前傳感器和相位獲取傳感器等。剪切干涉儀波前傳感器不需要精確的參考標準鏡;它們結構簡單，抗干擾能力強，條紋穩(wěn)定。SID4-eSWIR波前傳感器將Phasics的四波剪切技術與T2SL探測器結合在一起，提供覆蓋1.0至2.35 µm擴展短波紅外波段的高分辨率波前傳感器。 SID4-eSWIR是一種創(chuàng)新的解決方案，可用于檢測空間光通信、測試儀表、夜視系統(tǒng)或監(jiān)控設備中使用的短波紅外光學系統(tǒng)。
【關于Phasics】
Phasics是一家專注于高分辨率波前傳感技術的法國公司。Phasics公司憑借其在測量方面的專業(yè)經驗與*的波前測量技術為客戶提供全面的高性能波前傳感器。
一、 SID4-eSWIR 短波紅外波前傳感器(波前分析儀)主要特點
1.0至2.35 µm擴展波段全覆蓋
80 x 64高相位分辨率
瞬時相位測量，對振動不敏感
可接受非準直光入射，光路搭建簡易快捷
二、SID4-eSWIR 波前傳感器產品功能
波前像差測量
基于四波剪切技術，Phasics 的波前傳感器同時提供高分辨率的相位和強度測量。 波前傳感器與其光束分析軟件相結合，可提供完整的激光診斷：波前像差、強度分布、激光光束質量參數(shù)（M2、束腰尺寸和位置等）。Phasics 的波前分析儀可以放置在光學裝置的任何一點，無論光束是準直的還是發(fā)散的。SID4-NIR是一款高性價比的高分辨率波前傳感器，專門用于測量和對準1550 nm光通信波段中使用的激光光源和透鏡。 |  |
三、SID4--eSWIR 波前傳感器應用領域
激光 |自適應光學及等離子體檢測 |光學計量及光學系統(tǒng)計量
四、SID4-eSWIR 波前傳感器主要規(guī)格
| 波長范圍 | 1 - 2.35 µm |
| 靶面尺寸 | 9.60 x 7.68 mm2 |
| 空間分辨率 | 120 µm |
| 取樣分辨率 | 80 x 64 |
| 相位分辨率 | < 6 nm RMS |
| 絕對精度 | < 40 nm RMS |
| 實時處理速度 | 10 fps (全分辨率下)* |
| 接口種類 | USB 2.0 |
五、更多參數(shù)選型
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