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| 產地類別 | 進口 |
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MarSurf XC 20 被*為輪廓評估的*產品。開始于 30 年前的 Konturograph 產品 - 由驅動裝置和 X-/Y-記錄儀構成 #96 現已通過*的技術發展為*質量的輪廓測量系統。微調的設備配置可提供的性能標準。驅動裝置和測量立柱通過可靠的測量和評估軟件進行控制和定位。
可以顯示用戶提示
交互控制元素支持評估和自動例行程序
使用雙探針測
產品簡介
詳細介紹
銷售：鐘
MarSurf XC 20 mit PCV 200 輪廓測量站/MarSurf XC 20 mit PCV 200 輪廓測量站/
輪廓測量的基準
MarSurf XC 20 被*為輪廓評估的*產品。開始于 30 年前的 Konturograph 產品 - 由驅動裝置和 X-/Y-記錄儀構成 #96 現已通過*的技術發展為*質量的輪廓測量系統。微調的設備配置可提供的性能標準。驅動裝置和測量立柱通過可靠的測量和評估軟件進行控制和定位。
- 可以顯示用戶提示
- 交互控制元素支持評估和自動例行程序
- 使用雙探針測頭測量上下輪廓；也可對兩個輪廓進行相對評估
- 剖面圖像，可評估各剖面的不同參數
- 可對孔或陡峭對象等障礙進行分段測量
- 支持導入和導出 dxf 文件以對比設定點/實際值
- PCV 200 驅動裝置采用的測桿安裝方式，無需工具即可完成可重復性測桿更換
- 測頭系統，提高測量站靈活性
- 手動可變掃描力，同樣提高靈活性
- 使用直線和圓弧合成標稱輪廓
- 方便比較標稱和實際輪廓 可通過輪廓內的描述選擇不同的公差
- 技術數據
- 應用
- 附件
- 版本
- 貨運
接觸速度（Z 方向） | 0.1 至 1 mm/s |
|---|---|
測桿長度 | 175 mm, 350 mm |
測量速度（文本） | 0.2 mm/s 至 4 mm/s |
針尖半徑 | 25 µm |
掃描長度末尾（X 方向） | 200 mm |
分辨率 | Z 方向，相對探針針頭：0.38 µm（350 mm 測桿）/ 0.19 µm（175 mm 測桿） |
掃描長度開始（X 方向） | 0.2 mm |
取樣角 | 在平滑表面上，取決于偏差：后緣高至 88°，前緣高至 77° |
定位速度（文本） | X 方向返回速度：0.2 至 8 mm/s |
導塊偏差 | < 1 µm（200 mm 以上） |
測量范圍 mm | （Z 方向）50 mm |
掃描長度（文本） | 0.2 mm 至 200 mm |
測量力 (N) | 1 mN 至 120 mN，以下和以上（可在 MarSurf XC 20 中設置） |