■少子壽命儀 WT-2000設備升級改造  微波JMB103-O JMB103-0  皮帶定制 滑塊定制THK 主板 CONEC Z1118  光纖THOR TS1258778 移動電機（242238）A-MAX32+HEDS5540

■紅外探傷儀 紅外光源INFRALIGHT 811 451 紅外相機 IRB50 IRB-55 板卡IAB1095703

■電阻率測試儀 探頭KPT FT-201 202 探針23.5*0.5 16*0.5mm  

■EL、PL測試儀

■橢偏儀

■ 伺服系統 FANUC802S 802C 松下 西門子 三菱

■解決出質保期的高額維修服務費和配件費用高的問題。
■解決您維修周期長，耽誤生產的問題

HS-MWR-SIM無接觸少子壽命測試儀是一款功能強大的無接觸少子壽命測試儀，能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷單點少子壽命測試，其通過微波光電衰退特性原理來測量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進行特殊處理。少子壽命測試量程從0.1μs到20ms,電阻率量程為>0.1Ω.cm,,是太陽能電池硅片企業、多晶鑄錠企業、拉晶企業*的測量儀器。

產品特點

■ 無接觸和無損傷測量

■ 可移動掃描頭，便于測量

■ 測試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測量

■ 主要應用于硅棒硅塊、硅片的進廠、出廠檢查，生產工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監控等

■ 性價比高，*程度地降低了企業的測試成本