電子元件的振動測試程序

1、適用范圍：本標準規定用以測定電子組件(以下簡稱組件)于運輸或使用中承受振動之耐久性能之試驗方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。

  注：試驗方法Ⅰ適用于測定對一般振動之耐久性，試驗方法Ⅱ適用于測定共振點及試驗方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點之偏距，試驗方法Ⅲ適用于測定在共振點之耐久性。

2、裝置：振動裝置應能作表中所示各種試驗且符合下列條件。

(1)振動波形及失真率：施加于供試品之振動波形為正弦波，供試品安裝位置之振動加速度波形之備波含有率應為25%以下。

(2)振動振幅：規定振動方向之振幅容許差，須為規定值之±15%以內。

(3)與規定振動方向垂直之振動：于供試品安裝位置，與規定振動方向垂直之振動，不論任何方向，其振幅應為規定方向之25%以下。

(4)振動頻率容許差：50Hz以下就為±1Hz，超過50Hz時應為±2%。

(5)掃描(1)方法：原則是為對數掃描，但平均掃描亦可。

   注：(1)1次掃描，例如10—55——10Hz，是指在規定振動頻率范圍作1次往復之頻率變化。

3、準備

3．1 供試品之安裝：將供試品依組件標準規定之方法，直接或使用夾具堅固地安裝于振動臺上。使用夾具時，須能施加振動于組件標準規定之方向，且夾具應具足夠機械強度，安裝后亦不得松動或發生共振，組件標準應規定下列任一種安裝方法。

  (1)固定組件本體(有導線之組件，亦同時固定導線)。

  (2)僅固定導線。

4、試驗

4．1 前處理：原則上不作前處理。但有特別需要時，依組件標準之規定。

4．2 初期測定：依組件標準之規定施行，檢查外觀。

4．3 試驗方法：依下列各項施行。如裝置產生磁導且供試品易受磁場影響時，于組件中應規定其zui大允許值。

4．3．1 試驗方法種類：試驗方法分為Ⅰ(掃描耐久試驗)、Ⅱ(共振點偏移檢出試驗)及Ⅲ(共振點耐久試驗)三種。

   (1)試驗方法Ⅰ(掃描耐久試驗)：依組件標準之規定，照下表施行(參照圖)。

    振動原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗時間各方向均相同，合計6小時。

                                                                                                  表

   (2)試驗方法Ⅱ(共振點偏移檢出試驗)：本試驗是于4．3．1(1)及4．3．1(3)試驗前后施行，以檢出供試品這共振頻率。檢出共振時之振幅與掃描耐久試驗相同。但如由于減小振幅更能檢出振動特性。可減小振幅。