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什么是C-T光學結構以及兩種C-T結構中的分辨率差異

來源:北京卓立漢光儀器有限公司   2015年01月12日 10:09  
  目前的光譜儀較多的采用Czerny-Turner(切尼- 特納) 光路結構,即以兩面凹面反射鏡分別作為準直鏡和成像鏡,以平面反射光柵作為色散元件。這種光路結構的好處有兩種:一是平面光柵設計難度低,復制較為容易,衍射效率高,另一方面是由于Czerny-Turner 結構可調節和布置的結構參數較多,可以通過增加如濾光片輪SD 等光學元件避免二次和多次衍射,便于采用光電陣列探測器接收光譜。
 
  常見的切尼- 特納光譜儀主要分為交叉型和M 型兩種結構。如下圖所示。
 

 

  上圖中左所示為交叉型,是由M 型演變而來,結構更緊湊,空間利用率高,代表產品是小型光纖光譜儀。上圖中右為M 型,是C-T光譜儀的經典結構,代表產品是北京卓立漢光公司的譜王系列光譜儀。
 

 

  對這兩種典型切尼- 特納光路結構進行理論計算和對比試驗后,可得出:交叉型光路結構寬光譜范圍內的分辨率呈“V”型,即中心波長處分辨率 高,邊緣波長處分辨率 低,而M 型光路結構在全光譜范圍內變化較小,近似呈“一”型,即后者寬光譜范圍內的分辨率一致性遠好于前者。
 

 

  此結論表明:在切尼-特納式光柵光譜儀的研制中,如果對于寬光譜分辨率一致性要求較高,則應采用M型光路結構。

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