PE等離子體質譜(可能指的是電感耦合等離子體質譜儀,ICP-MS)在分析過程中可能會遇到多種干擾,這些干擾會影響分析的準確性和靈敏度。為了消除或減小這些干擾,可以采取一系列的技術手段。以下是對PE等離子體質譜干擾消除技術的詳細歸納:
一、質譜干擾及其消除技術
質譜干擾主要包括同質異位素干擾、氧化物干擾、氫化物干擾、雙電荷離子干擾和多原子離子干擾等。
1.同質異位素干擾:
-干擾原因:不同元素的同位素質量相同,導致在質譜圖上產生重疊。
-消除方法:選擇無干擾或干擾較小的同位素進行測定;使用數學校正法,根據同位素豐度比進行計算校正。
2.氧化物干擾、氫化物干擾等:
-干擾原因:樣品中的元素與氧、氫等元素結合形成氧化物、氫化物等干擾離子。
-消除方法:優化儀器條件,如調整等離子體溫度、載氣流速等;使用碰撞/反應池技術,通過離子與分子之間的反應消除干擾離子。
3.多原子離子干擾:
-干擾原因:由兩個或更多原子結合而成的復合離子對目標離子產生干擾。
-消除方法:采用高分辨率質譜儀;使用冷等離子體技術或等離子體屏蔽技術降低多原子離子的形成;通過基體分離技術去除干擾元素。
二、非質譜干擾及其消除技術
非質譜干擾主要指的是基體效應,包括物理效應和質量歧視效應。
1.物理效應:
-干擾原因:樣品基體的物理性質(如粘度、密度等)對分析過程產生影響。
-消除方法:優化樣品引入系統,如選擇合適的霧化器和霧化室;確保樣品溶液的穩定性和均勻性。
2.質量歧視效應:
-干擾原因:儀器對不同質量數的離子具有不同的傳輸效率和檢測靈敏度。
-消除方法:使用內標法或同位素稀釋法進行校正;確保儀器處于最佳工作狀態,如定期進行維護和校準。
三、其他干擾消除技術
除了上述針對具體干擾類型的消除方法外,還可以采取以下通用技術來減小干擾:
1.分離干擾元素:
-方法:通過共沉淀、色譜分離等方法將干擾元素與目標元素分離。
-應用:適用于基體復雜或干擾元素含量較高的樣品。
2.稀釋法:
-方法:將樣品稀釋至一定濃度,以降低干擾元素的濃度。
-應用:適用于干擾元素濃度較高但目標元素濃度較低的樣品。
3.基體匹配法:
-方法:使用與樣品基體相似的溶液作為空白溶液進行測定,以消除基體效應的影響。
-應用:適用于基體對分析結果有顯著影響的樣品。
PE等離子體質譜的干擾消除技術包括針對質譜干擾和非質譜干擾的多種方法。在實際應用中,應根據樣品的特性和分析要求選擇合適的技術手段進行干擾消除,以確保分析的準確性和靈敏度。
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