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日本Kenko-Tokina KT-M1020D、KT-M1021D、KT-M1022D光源選型指南

來源:秋山科技(東莞)有限公司   2025年05月16日 12:19  

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日本Kenko-Tokina的可調(diào)波長(zhǎng)光源系列(KT-M1020D、KT-M1021D、KT-M1022D)憑借其鹵素?zé)艄庠磁c線性可變?yōu)V波器(LVF)技術(shù),在工業(yè)檢測(cè)領(lǐng)域廣泛應(yīng)用。三款產(chǎn)品雖屬同一系列,但在功能迭代、硬件配置和應(yīng)用場(chǎng)景上存在顯著差異。本文將從核心參數(shù)、功能特性、適用場(chǎng)景等維度進(jìn)行對(duì)比分析,為選型提供參考。

一、核心參數(shù)對(duì)比

型號(hào)KT-M1020DKT-M1021DKT-M1022D
波長(zhǎng)范圍1250~2500nm(未明確實(shí)際范圍)推測(cè)介于M1020D與M1022D之間1250~2200nm(實(shí)際使用范圍)
波長(zhǎng)分辨率25nm/mm(理論值)未明確更高精度控制(LVF優(yōu)化)
控制接口PC軟件控制為主未明確D-sub15P遙控接口(支持模擬調(diào)光輸入、遠(yuǎn)程關(guān)閉)
光圈調(diào)節(jié)φ1~φ3.0機(jī)械可變未明確固定光圈(標(biāo)準(zhǔn)化設(shè)計(jì))
電源輸入AC90~130V未明確AC90~110V(更寬泛兼容性)

二、功能特性差異

  1. 波長(zhǎng)控制能力

    • KT-M1020D:作為基礎(chǔ)升級(jí)版,支持通過PC應(yīng)用程序設(shè)定任意波長(zhǎng),并可通過設(shè)備端直接操作,適用于硅片背面圖案觀察、食品異物檢測(cè)等常規(guī)場(chǎng)景。

    • KT-M1022D:LVF波長(zhǎng)分辨率更高(理論值25nm/mm),實(shí)際覆蓋1250~2200nm波段,尤其適合短波紅外(SWIR)成像,可結(jié)合SWIR相機(jī)實(shí)現(xiàn)高精度材料內(nèi)部無損檢測(cè)(如樹脂容器透明度檢查)。

    • KT-M1021D:具體參數(shù)未公開,推測(cè)在波長(zhǎng)范圍或接口靈活性上介于前兩者之間,可能針對(duì)特定行業(yè)(如電子元件或化工)優(yōu)化。

  2. 硬件配置

    • 光源與功率:三款均采用鹵素?zé)簦?biāo)準(zhǔn)12V/100W,可選15V/150W),燈泡壽命標(biāo)準(zhǔn)為1000小時(shí)(高功率模式縮短至50小時(shí))。

    • 光纖配件:KT-M1022D標(biāo)配1米紅外光纖,兼容性更強(qiáng)3,而KT-M1020D需額外選配。

    • 散熱與防護(hù):KT-M1022D優(yōu)化了散熱設(shè)計(jì),工作溫度范圍更穩(wěn)定(0~40℃),適合長(zhǎng)時(shí)間高負(fù)荷檢測(cè)。

  3. 軟件兼容性

    • KT-M1022D配套軟件支持更靈活的波長(zhǎng)校準(zhǔn)與多任務(wù)編程,可通過CD-ROM快速部署檢測(cè)方案。

    • KT-M1020D依賴基礎(chǔ)PC控制軟件,功能擴(kuò)展性有限。

三、應(yīng)用場(chǎng)景推薦

  1. 基礎(chǔ)檢測(cè)需求

    • 推薦型號(hào):KT-M1020D
      適用場(chǎng)景:食品異物篩選、樹脂材料分類、膜厚測(cè)量等基礎(chǔ)工業(yè)檢測(cè)。優(yōu)勢(shì)在于成本較低,操作簡(jiǎn)單,適合預(yù)算有限或檢測(cè)精度要求中等的用戶。

  2. 高精度工業(yè)分析

    • SWIR波段檢測(cè):結(jié)合短波紅外相機(jī),用于不透明材料內(nèi)部缺陷識(shí)別(如藥品包裝密封性檢測(cè))。

    • 復(fù)雜光譜分析:如半導(dǎo)體晶圓內(nèi)部結(jié)構(gòu)成像、化工材料變質(zhì)判斷。
      其高波長(zhǎng)分辨率(25nm/mm)和遙控接口(D-sub15P)可滿足自動(dòng)化產(chǎn)線集成需求6。

    • 推薦型號(hào):KT-M1022D
      適用場(chǎng)景:

  3. 特定行業(yè)定制

    • 推薦型號(hào):KT-M1021D
      適用場(chǎng)景:電子元件表面劃痕檢測(cè)、化工原料成分分選等需要特定波長(zhǎng)組合的領(lǐng)域。需聯(lián)系供應(yīng)商(如深圳秋山工業(yè))獲取定制化參數(shù)支持。

四、選型決策建議

  1. 預(yù)算與功能平衡

    • 若預(yù)算有限且檢測(cè)需求簡(jiǎn)單,KT-M1020D性價(jià)比

    • 若需高精度或長(zhǎng)期自動(dòng)化部署,KT-M1022D的硬件擴(kuò)展性和軟件兼容性更優(yōu)。

  2. 兼容性驗(yàn)證

    • 確認(rèn)現(xiàn)有設(shè)備接口(如是否需D-sub15P遙控),避免二次開發(fā)成本。

    • 檢查檢測(cè)目標(biāo)的波長(zhǎng)敏感范圍(如食品檢測(cè)常用可見光波段,而SWIR需≥1000nm)。

  3. 供應(yīng)商服務(wù)

    • 三款產(chǎn)品起訂量均為≥100臺(tái),參考價(jià)約¥12,000起,但具體成交價(jià)需通過合同協(xié)議確定15。

    • 建議要求供應(yīng)商提供試用支持,驗(yàn)證實(shí)際場(chǎng)景匹配度。

五、總結(jié)

KT-M1020D、KT-M1021D、KT-M1022D的核心差異在于波長(zhǎng)控制精度、硬件擴(kuò)展性及場(chǎng)景適配能力。用戶需根據(jù)檢測(cè)目標(biāo)的物理特性(如材質(zhì)透光率、缺陷尺寸)、產(chǎn)線自動(dòng)化程度及預(yù)算綜合決策。對(duì)于高復(fù)雜度檢測(cè)(如SWIR成像),KT-M1022D是選擇;而中小型企業(yè)可優(yōu)先考慮KT-M1020D,逐步升級(jí)至型號(hào)。


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