菲希爾XDL220測厚儀高分辨率CCD彩色攝像頭,沿著初級X射線光束方向觀察測量位置。
設計用途 能量色散型X射線熒光鍍層測厚及材料分析儀 (EDXRF), 用于測定超薄鍍層和溶液分析。 元素范圍 從元素 氯(17) 到 鈾(92) 配有可選的WinFTM® BASIC軟件時,最多可同時測定24種元素 設計理念 臺式儀器,測量門向上開啟 測量方向 由上往下。
XDL220: 固定工作臺,馬達驅動的Z軸系統。
采用了 FISCHER 基本參數法,因此無論是對鍍層系統還是對固體和液體樣品,儀器都能在沒有標準片的情況下進行測量和分析。
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