在太陽能材料、節(jié)能建筑、光學(xué)涂層和航空航天等高精尖領(lǐng)域，對材料在不同太陽輻照條件下的反射特性有著嚴(yán)格的測量需求。D&S太陽光譜反射儀 SSR-ER：符合ASTM C1549-04、E891-87 等標(biāo)準(zhǔn)，正是為滿足這一需求而打造的一款高精度、多功能光譜測量設(shè)備。

設(shè)備概述

SSR-ER v6 采用可選擇的太陽光譜測量模式，精確模擬多種全球與直射太陽輻照度模型，適用于各種漫反射與鏡面材料，包括厚度達6.4毫米的二次反射面。其測量分辨率達0.001單位，重復(fù)性優(yōu)于0.003單位，為太陽反射率與吸收率測量樹立了新標(biāo)準(zhǔn)。

核心技術(shù)與優(yōu)勢

1. 六通道光譜探測系統(tǒng)

SSR-ER v6 搭載四個實際光譜探測器（UV、藍光、紅光、紅外），并通過在較低色溫（~2300K）下對紅光和紅外通道重采樣，生成兩個虛擬探測器?？偣擦鶄€通道的組合使得設(shè)備能夠匹配多種太陽光譜模型，包括：

• ASTM G173 AM1.5（全球與直射）

• ASTM E891 AM1.5

• AM0（空間用）、AM1（地面用）不同分量

• 近紅外光譜（780nm+）、CIE D65 可見光模型

• 模擬 SSR v5 各版本輸出

未來新標(biāo)準(zhǔn)也可通過固件升級或RAM上傳方式進行擴展支持。

2. 精確而穩(wěn)定的測量機制

測量采用鎢鹵素?zé)艄庠?/strong>進行漫反射照明，樣品反射的光在距法線20度角度被探測器接收。根據(jù)光學(xué)互易原理，這一設(shè)計可模擬太陽光以20度入射時的反射效果。測量周期為8秒，其中6秒用于背景校正，2秒進行讀數(shù)采樣，避免了熱漂移與偏移問題。

3. 高標(biāo)準(zhǔn)溯源校準(zhǔn)

設(shè)備配備NIST 溯源的漫反射與鏡面標(biāo)準(zhǔn)板，與美國國家標(biāo)準(zhǔn)材料編號2019與2023一致。此外，系統(tǒng)還內(nèi)置黑體腔體，用于將系統(tǒng)偏移歸零。

每臺儀器出廠時都通過一組參考顏色磚進行光譜校準(zhǔn)，這些磚塊覆蓋從UV到IR的反射范圍，并隨設(shè)備附帶校準(zhǔn)記錄卡。用戶還可將多達五組工作標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)儲存在內(nèi)存中，便于現(xiàn)場快速切換與長期追蹤校準(zhǔn)狀態(tài)。

4. 多模式數(shù)據(jù)輸出與操作便捷性

操作面板支持：

• 切換顯示反射率與吸收率

• 單通道數(shù)據(jù)讀?。ㄈ鐑H顯示IR或UV通道）

• “保持”功能凍結(jié)當(dāng)前測量值

• 自動/手動串口輸出數(shù)據(jù)

• 向后兼容SSR v5輸出格式

5. 優(yōu)秀的擴展能力與便攜性

SSR-ER 提供多種擴展選項，使其適應(yīng)更廣泛的測量應(yīng)用：

• 非平面適配器：可測量直徑小至13mm的圓柱面。

• 手柄模塊：便于手持測量。

• 12V便攜電源包：鋰電池供電，連續(xù)運行達5小時。

• 透射率測量附件（SSR-T）：用于測量總太陽透射率，支持入射角0–60°調(diào)節(jié)。

技術(shù)規(guī)格一覽

應(yīng)用領(lǐng)域

SSR-ER Version 6 可廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域：

• 建筑節(jié)能材料檢測：如屋頂涂層、Low-E玻璃、保溫墻面

• 太陽能技術(shù)：光熱鏡面、光伏組件涂層性能檢測

• 航空航天材料評估：如熱控涂層、反射膜等

• 新材料研究與開發(fā)：光學(xué)特性分析

• 工業(yè)質(zhì)量控制與來料檢驗

  
  

  
  

SSR-ER 第六代太陽光譜反射儀集高精度、多波段測量、強大的校準(zhǔn)系統(tǒng)與便捷操作于一體，是現(xiàn)代材料光譜分析的重要工具。其模塊化設(shè)計與豐富選配件，使其不僅適用于實驗室，也能勝任戶外便攜測試。無論是科研單位、材料制造商，還是質(zhì)量控制機構(gòu)，SSR-ER 都是提升測量效率與精準(zhǔn)度的不錯選擇。