用于調(diào)查附著異物和落塵的 “落塵計(jì)數(shù)器”介紹
一種特殊的測量裝置,可以測量落塵而不是浮塵。
對10μm以上的粗顆粒進(jìn)行分類和計(jì)數(shù)。
*這是與“粗顆粒計(jì)數(shù)器”不同的測量裝置。
您有這些問題嗎?
即使在無塵室中工作,異物的量也沒有減少。
雖然它是使用粒子計(jì)數(shù)器進(jìn)行管理的,但不可能將其與缺陷關(guān)聯(lián)起來。
我想創(chuàng)造一個(gè)干凈的環(huán)境,但不知道如何管理。
我們很難處理從衣服等引入的異物。
通過測量落下的灰塵而不是漂浮的灰塵,可以采取針對附著異物的對策!
如果您想減少產(chǎn)品上附著的異物量,則應(yīng)使用落塵計(jì)數(shù)器而不是顆粒計(jì)數(shù)器進(jìn)行測量。
原因是:
① 導(dǎo)致附著異物的粗顆粒較大,范圍為 10 μm 至 100 μm,無法用顆粒計(jì)數(shù)器測量。
② 大顆粒不會漂浮在空氣中,而是沉降并成為落塵。
上面提到了兩個(gè)。
此外,ISO14644-17自2021年2月起頒布,可以直接使用引起缺陷的粗顆粒作為管理指標(biāo)。(點(diǎn)擊這里查看ISO14644-17中列出的PDR和PDRL之間的關(guān)系)
因此,通過測量落下的灰塵而不是空氣中微小的漂浮灰塵,可以管理附著的異物。
什么是落塵計(jì)數(shù)器?

這是一種特殊的測量裝置,可以測量掉落的粗顆粒而不是漂浮的灰塵。
利用樣品收集板(4英寸硅片),利用粗顆粒的沉降特性,對下落的10μm以上的粗顆粒進(jìn)行分級計(jì)數(shù)。
它可以在任何可以放置硅晶圓的地方進(jìn)行評估。
*硅晶片:圓盤狀樣品板,是表面平整度和耐熱性優(yōu)異的半導(dǎo)體基板。
本機(jī)是專門利用硅片樣品對10μm至100μm粗顆粒進(jìn)行分類和計(jì)數(shù)的測量設(shè)備。
對于頭發(fā)等100μm以上的異物,由于其形狀和重量,不適合使用硅片作為樣品。
建議使用“DUSCAR®100 BLACK”來調(diào)查較大的異物。
落塵計(jì)數(shù)器陣容
DTSP10-02 | DTSP10-03 | ||
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最小可測量粒徑 | 10μm | 10μm | |
粒度分級 | 10μm、30μm、50μm、100μm | 10μm、30μm、50μm、100μm 可在11~99μm*3范圍內(nèi)任意設(shè)定值 | |
兼容晶圓尺寸 | 4英寸 | 4英寸 | 2英寸*4) |
最大測量面積 | φ80mm | φ80mm | φ30mm |
修剪功能 | 是的 | 是的 | 沒有任何 |
顯示切換 | 沒有任何 | 有(可單獨(dú)顯示) |
*3) 任意分類設(shè)定的閾值是從校準(zhǔn)曲線中獲得的值,無法保證計(jì)數(shù)效率。
*4) 僅在 4 英寸區(qū)域內(nèi)保證計(jì)數(shù)效率,對于 2 英寸區(qū)域無法保證計(jì)數(shù)效率,計(jì)數(shù)效率受到限制。
▼DTSP10-02 | ▼DTSP10-03 |
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