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HORIBA | 貼息貸款儀器 | 納米粒度及Zeta電位分析儀

來源:HORIBA科學儀器事業部   2022年11月23日 09:08  

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    產品名稱:納米粒度及Zeta電位分析儀 

    產地:日本

    型號:SZ-100V2


典型用戶:天津醫藥科學研究所


01 儀器用途及應用范圍:


SZ-100V2擁有兩個角度檢測器,可測量不同濃度樣品( 高濃度、稀釋樣品、有色樣品)專利Zeta 電位樣品池設計,電極間距小,石墨涂層,可減小所加電壓、最小化水的電解效應,延長樣品池壽命。


生命科學

蛋白質團聚的粒徑檢測

脂質體、病毒粒徑測量

蛋白質的Zeta 電位、等電點測量


半導體材料

CMP 拋光液粒徑分析

CMP 拋光液在線粒徑分布監控

CMP 研磨液Zeta 電位分析

硅片切削液粒徑分布分析


02 產品特點


粒徑測量原理:動態光散射法(光子相關光譜法)

粒徑測定范圍:0.3 nm ~ 10 μm

Zeta 電位測量原理:激光多普勒電泳法

Zeta 電位測量范圍:-500 mV ~ +500 mV

分子量測量原理:Debye plot

分子量測量范圍:1000 ~ 2×107 Da

測量角度:90° 、173°和17°

樣品量:12 μL ~ 1000 μL


03 索取樣本、聯系報價


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