日本日置電阻計RM3545概述

微電阻計的使用方法：接觸電阻的測量(低電流電阻測量)

連接器的接觸電阻和用于小信號的繼電器的接點電阻的低電阻測量方法分別按照JIS標準和IEC標準來制定。可以使用電阻計RM3545進行對應的低電流電阻測量(干電路測試)。為了不破壞接觸部分的氧化物層，可以在開路端子電壓20mV以下、測試電流1mA以下進行0.1μΩ～1kΩ的測量，適用于接觸電阻檢查。

微電阻計的使用方法：對熱電動勢的影響進行補償

低阻測量中由于不同金屬的連接部分所產生的電壓(熱電動勢)不同，有時會導致測量值不穩定。電阻計RM3545具備對熱電動勢的影響進行補償的“偏置電壓校正(OVC)功能"。適用于對如匯流排焊接部分這類低電阻進行測量。

4端子測量電阻率

使用RM3545，可使用損耗較小的4端子方法來測量電阻率。

日本日置電阻計RM3545特點

★ 基本精度0.006%，樶小分辨率0.01μΩ，樶大測量電流1A
★ 可測范圍0.00μΩ(測試電流1A)~1200MΩ
★ 使用多路轉接器單元Z3003(選件)可進行多點測量(4端子20ch)和可綜合判斷的多路轉接器功能(僅限RM3545-02)
★ 開路端口電壓20mV以下的低功率電阻測量
★ 高速支持自動化判別，從測量開始到判斷輸出*快2.2ms