集成了激光顯微鏡和探針掃描顯微鏡功能的新型納米檢測顯微鏡,可以實現(xiàn)從50倍到100萬次的超寬范圍的觀察和測量,以及一種新型的在不失去鎖定的情況下實現(xiàn)納米級觀察目的是縮短從放置樣品到獲取圖像的工作時間。多合一模型,因此無需重新放置樣品,只要在一個設備上打開放大和觀察方法,它就可以靈活地響應新樣品。下面幾個方面來說說它的強大功能。
1、原子分辨率和穩(wěn)定性。
2、大的樣品腔設計,適應性強。
3、主控制系統(tǒng)采用德州儀器(TI)32位高性能數(shù)字信號處理器(DSP)。
4、高壓掃描驅動器采用APEX集成高壓運算放大器。
5、主控制系統(tǒng)具有內置的實時操作系統(tǒng)。
6、系統(tǒng)使用FastEthernet連接到計算機。
納米檢測顯微鏡檢測過程可以立即獲得更直觀的外觀和豐富的細節(jié),同時進行多通道信號采集和顯示,一次掃描即可同時獲得各種特性和樣本特征具有導出圖像和曲線數(shù)據(jù)的樂趣因此,可以獲得所有原始數(shù)據(jù)探針表征和圖像重建功能(針尖形貌估計/圖像重建/使用已知探針的圖像重建)。
1、全自動插入針頭,無需手動粗調。
2、只需更換探頭支架,即可在STM和AFM等不同類型的儀器之間進行切換。
3、全數(shù)字控制,智能識別和控制參數(shù),例如儀器類型和系統(tǒng)狀態(tài)。
4、軟件控制的樣品移動。
5、納米檢測顯微鏡同時保存所有當前工作環(huán)境參數(shù)和掃描圖像。
6、樣品粒徑和粗糙度自動分析功能,與國家和標準相關的全套參數(shù)可用。
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