手機版
化工儀器網手機版
化工儀器網小程序
官方微信
公眾號：chem17
掃碼關注視頻號
1.ZSI：剪切干涉測量技術提供z向高分辨率圖像。
2.ZFT：使用集成寬帶反射計測量膜厚度和反射率。
3.AOI：自動光學檢測，并對樣品上的缺陷進行量化。
4.ZXI：白光干涉測量技術，適用于z向分辨率高的廣域測量。
5.ZDot：同時采集高分辨率3D數據和True Color（真彩）無限遠焦點圖像。
6.ZIC：干涉對比度，適用于亞納米級別粗糙度的表面并提供其3D定量數據。
7.生產能力：通過測序和圖案識別實現全自動測量。
8.光學輪廓儀可用于樣品復檢或缺陷檢測的高質量顯微鏡。
9.采用ZDot和Multi-Mode（多模式）光學器件的簡單易用的光學輪廓儀，具有廣泛的應用。
10.晶圓傳送機械臂: 自動加載直徑為50mm至200mm的不透明（如硅）和透明（如藍寶石）樣品。
免責聲明
- 凡本網注明“來源：化工儀器網”的所有作品，均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品，未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的，應在授權范圍內使用，并注明“來源：化工儀器網”。違反上述聲明者，本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源（非化工儀器網）的作品，目的在于傳遞更多信息，并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責，不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時，必須保留本網注明的作品第一來源，并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題，請在作品發表之日起一周內與本網聯系，否則視為放棄相關權利。
采購中心