Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀是在XRF-2000系列測厚儀的基礎上增加了元素分析及有害物質檢測的功能,其物點為:高分辨率,固態探測器。主要應用測量鍍金、涂層、薄膜、元素的成分或者是厚度,其可偵測元素的范圍:Ti(22)~U(92 )。 自動過濾器,多準直儀(五個準直器,從0.1mm-3.0mm)和全自動XYZ移動樣品臺;性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器
微先鋒鍍層測厚儀的功能:
1.相容Microsoft微軟作業系統之測量軟體,操作方便,直接可用Office軟體編輯報告。
2.標準ROI軟體搭配內建多種專業報告格式,亦可將數據、圖形、統計等作成完整報告。
3.可測量高達六層的鍍層(五層厚度底材) 并可同時分析多種元素。
4.移動方式:全系列全自動載臺電動控制,減少人為視差。
5.全系列*設計樣品與光徑自動對準系統。
6.非破壞,非接觸式檢測分析,快速精準。
7.準直器口徑多種選擇,可根據樣品大小來選擇準值器的口徑。
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