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UV-A型紫外輻照計有兩種，分別是單通道和雙通道，用來測量紫外線輻射的強度，在各個行業被廣泛應用。我們今天來了解一下紫外輻照計的特點。UV-A型紫外輻照計采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩定，適用性強。山東桑澤儀器生產的UV-A型紫外輻照計，有單通道和雙通道兩種，歡迎前來選購。
UV-A型紫外輻照計的技術指標：
項目 | 參數 | 備注 |
波長范圍λ1，峰值波長λp | （320～400）nm，λP＝365nm | 配備兩只探頭 |
波長范圍λ2，峰值波長λp | （375～475）nm，λP＝420nm | |
輻照度測量范圍 | (0.1～199.9×103) μW/cm2 |
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紫外帶外區雜光 | 0.02% |
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相對示值誤差 | ±8％（相對于NIM標準） |
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角度響應特性 | ±5% （α≤10°） |
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線性誤差 | ±1% |
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換檔誤差 | ±1% |
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短期不穩定性 | ±1%（開機30min后） |
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零值誤差 | 滿量程的±1% |
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響應時間 | <1秒 |
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使用環境 | 溫度(0~40)℃；濕度＜85％RH |
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尺寸和重量 | 160mm×78mm×43mm；0.2kg |
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電源 | 6F22型9V積層電池（非充電電池） |
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整機功耗 | ＜0.1VA |
UV-A型紫外輻照計的特點我們來介紹一下，首先光譜及角度特性經嚴格校正，數字液晶顯示，帶背光，可手動/自動量程切換，低電量時可提醒等等。所以被廣泛適用于光化學、高分子材料老化、紫外光源、以及大規模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作。如果您需要購買UV-A型紫外輻照計，請咨詢山東桑澤儀器儀表有限公司
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