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C-Swift+是一個良好、高速EBSD探測器。和Symmetry S3 探測器一樣，C-Swift+使用定制的CMOS傳感器來實現高速和高靈敏度，以確保即使在更具挑戰性的材料上也能獲得高質量的結果。

C-Swift+速度為2000 pps，同時可獲得高質量的花樣分辨率(156 x 128 像素）。這相當于基于CCD的探測器以相似速度運行時所采集花樣像素數的4倍，確保所有類型樣品的可靠標定和高。無失真光學系統與AZtec軟件中強大的標定算法結合，使C-Swift+能夠提供優于0.05°的高角度精度。對于需要更高質量花樣的應用，C-Swift+可以以高達250 pps的速度采集622 x 512像素的花樣，使其成為復雜的多相樣品和精細的相分析的理想選擇。

這是專為快速、有效的樣品表征而設計的探測器。系統的每個組件，從接近傳感器到可選的集成前置探測器，都經過設計, 旨在更大限度地提高性能和易用性, 并使EBSD成為每個實驗室的標準工具。