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顯微鏡：顯微鏡類型單筒顯微鏡/體視顯微鏡放大倍率16X-200X移動行程水平方向繞立柱360度旋轉，Z軸50.8mm光源外置LED無極調節亮度環形光源

* 適用于6英寸以內的各種半導體器件的高精度測試*同軸驅動CHUCK*可以升級做射頻測試*20X~2000X 光學顯微放大*無后座力移動*可以選擇顯微鏡傾仰裝置...

GDWT-480型全自動型高低溫真空探針臺主要應用于I-V/C-V，PIV測試,傳感器，半導體，光電，集成電路以及封裝的測試。 廣泛應用于復雜、高速器件的精密電...

在實際得科研生產中，由于樣品/晶圓（Wafer）得尺寸越來越大，用于測試得探針臺相當昂貴，我司根據客戶市場應用自主研發得這款結構小巧，功能實用，成本較低得簡易式...

JKZC-DM系列探針臺是我司一款基于高校教育與實驗室而研發的基礎型晶圓測試探針臺。其結構緊湊，設計精密，價格實惠，配置靈活，性價比。在高等院校教學和小型實驗室...

JKZC-DN系列探針臺是我司一款增強型晶圓測試探針臺，最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺釆 用高剛性顯微鏡龍門結構，顯微鏡可X-Y-Z方向進行精密...

JKZC-DH系列探針臺是一款綜合型晶圓測試探針臺，最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺設備配 置十分豐富，不僅具備龍門架結構和卡盤的升降功能，還具備...

JKZC-DSH系列探針臺是我司自主研發的一款雙面探針臺，最大可完成12英寸晶圓的正反面點針測試。在具備常 規探針臺的功能基礎上,可用于晶圓和PCB板的測試，對...

JKZC-UC系列探針臺是一款在非真空條件下實現低溫環境的測試探針臺。該產品釆用液氮或者空氣壓縮機制冷 ,自動控溫，設備配置非常豐富。自帶屏蔽暗室，一方面可以屏...

JKZC-DCHH系列高低溫真空探針臺是我司自主研發的一款在環境下給樣品加載電學信號的設備。可以實現 器件及材料表征的IV/CV特性測試，射頻測試，光電測試等。...

主要參數：進口高剛性絲桿,螺距:025mm/rev;X/Y/Z行程:12.5mm ,精度:0.5um;高剛性結構，彈簧消隙X-Y-Z穩定無間隙；吸附形式:N52...

JKZC-DR-200mRF或者JKZC-DL-200mRF（R代表右邊，L代表左邊） 主要慘數：.進口高剛性絲桿螺距:0.25mm/rev ;?X/Y/Z行程...

產品型號JKZC-UC-JKZC-DR4產品參數-鐵磁屏蔽箱,屏蔽外界信號對測試的干擾，提升測試精度；?向上開門設計，空氣彈簧結構,帶接地端子；-高壓，大電流測...

?整機外形尺寸:約380mmL*300mmW*320mm H,重量:約10 kg；?雙探針座平臺鍍鏢設計，提高了針座平臺和針座之間的吸附力；? ChJKZC-U...