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Otsuka大塚高速測(cè)量掃描膜厚儀（在線式）
| 參考價(jià): | 面議 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：23更新時(shí)間：2025-06-07 10:07:44
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價(jià)格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜 硬件軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì) 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量 不受偏差影響 可對(duì)應(yīng)寬幅樣...
產(chǎn)品介紹
Otsuka大塚高速測(cè)量掃描膜厚儀（在線式）-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特點(diǎn)
● 采用線掃描方式檢測(cè)整面薄膜
● 硬件&軟件均為創(chuàng)新設(shè)計(jì)
● 作為專業(yè)膜厚測(cè)定廠商，提供多種支援
● 實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量（已獲取）
● 實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量
● 不受偏差影響
● 可對(duì)應(yīng)寬幅樣品（TD方向大可測(cè)量10m）
式樣
| 在線型 | 離線型 | |
| 膜厚范圍 | 0.7~300μm*1 | |
| 測(cè)量寬度 | TD:500mm~大10m x MD1mm | TD:250mmxMD1mm |
| 測(cè)量間隔 | 10ms ~ | |
| 設(shè)備尺寸 | 81(W)x140(D)x343(H)mm | 459(H)x609(D)x927(H)mm |
| 重量 | 4kg(僅測(cè)量頭) | 60kg |
| 大功耗 | AC100V 10% 125VA | |
※膜厚值n=1.5的換算。由式樣而定
測(cè)量案例
500mm寬的包裝薄膜
核心特點(diǎn)：
微區(qū)測(cè)量能力：最小光斑直徑3μm，搭配自動(dòng)XY平臺(tái)（200×200mm），實(shí)現(xiàn)晶圓、FPD（如OLED、ITO膜）等微小區(qū)域的精準(zhǔn)厚度分布映射。
跨行業(yè)適用性：專為半導(dǎo)體（SiO?/SiN膜）、顯示面板（彩色光阻）、DLC涂層等行業(yè)設(shè)計(jì)，支持粗糙表面、傾斜結(jié)構(gòu)及復(fù)雜光學(xué)異向性樣品的分析。
安全與擴(kuò)展性：區(qū)域傳感器觸發(fā)防誤觸機(jī)制，獨(dú)立測(cè)量頭支持定制化嵌入，滿足在線檢測(cè)（inline）與實(shí)驗(yàn)室研發(fā)需求。
Otsuka大塚高速測(cè)量掃描膜厚儀（在線式）-成都藤田科技提供
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