粒形分析儀采樣分析
粒形分析儀采用激光光阻技術(shù),不需要任何假設(shè)或樣品特性,可直接測(cè)定微粒的粒度分布(0.1-3600微米)。這種*的分析技術(shù),被稱為“Laser Obscuration Time”激光光阻技術(shù)(LOT)。
LOT與其他激光衍射技術(shù)相比的主要優(yōu)勢(shì)是其較高的分辨率,通過對(duì)小范圍的檢測(cè)從而得到更好的測(cè)量精度。使用LOT技術(shù)主要好處是,即使有任何其他顆粒或介質(zhì)的物理或化學(xué)性質(zhì)影響,仍得到可靠地測(cè)量結(jié)果。配套的軟件,通過分析計(jì)算復(fù)雜的多脈沖信號(hào)光阻時(shí)間,可在幾秒鐘內(nèi)得到清楚和精確的顆粒分布測(cè)量結(jié)果。
粒形分析儀實(shí)時(shí)可視化采樣,有效地讓用戶可以輕松地監(jiān)測(cè)樣品準(zhǔn)備過程或受污染情況,同時(shí)也為了避免樣品無關(guān)的或不必要的組分影響分析結(jié)果。
采用*的激光光阻法進(jìn)行快速的粒徑測(cè)量；
采用復(fù)雜的動(dòng)態(tài)圖像分析法,地分析顆粒粒形；
測(cè)量結(jié)果直接且僅取決于顆粒大小；
測(cè)量結(jié)果不受顆粒或介質(zhì)的物理和光；
測(cè)量結(jié)果直接與顆粒大小相關(guān),而非推算出來；
無需了解樣品的折射指數(shù)；
能分析半透明和透明的樣品激光和圖像通道的結(jié)合*地結(jié)合了激光光阻法和復(fù)雜的動(dòng)態(tài)粒形圖像分析技術(shù)；
對(duì)球形、非球形及延長顆粒的分析定性；
可同時(shí)測(cè)量粒徑、形狀和濃度多種樣品池和光學(xué)元件配置可滿足不同類型的干法及濕法檢測(cè)需求；
測(cè)量過程中可實(shí)時(shí)觀察樣品顆粒圖像。
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