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CHY-01厚膜膜層測厚儀采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。厚膜膜層測厚儀專業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。技術特征

l 嚴格按照標準設計的接觸面積和測量壓力，同時支持各種非標定制;

l 測試過程中測量頭自動升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差;

l 測試軟件提供測試結果圖形統(tǒng)計分析，準確直觀地將測試結果展示給用戶；

l 彩色大液晶顯示測試結果，及每次測量值、統(tǒng)計值；

l 配備微型打印機，快速打印每次測量結果及統(tǒng)計大小值、平均值；

l 支持數(shù)據(jù)實時顯示、自動統(tǒng)計、打印等許多實用功能;

l 配備標準RS232接口，方便系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸；

l 配備專用自動進樣器，可一鍵實現(xiàn)全自動多點測量，人為誤差小（選配）；

應用范圍

適用于5mm范圍內(nèi)各種薄膜、薄片、隔膜、復合膜、紙張、紙板、玻璃、箔片、硅片、金屬箔片、硬片、紡織材料、固體電絕緣體、無紡布材料等硬質(zhì)和軟質(zhì)材料厚度準確測量。分辨率達0.1um，廣泛應用于薄膜、鋁箔生產(chǎn)企業(yè)、質(zhì)檢機構等單位。擴展應用：（需特殊附件或改制）

適用標準

該儀器符合多項國家和國際標準：GB/T 6672-2001 、GB/T 451.3-2002、GB/T 6547-1998、ISO 4593-1993、ISO 534-2011、ISO 3034-2011、ASTM D374-1999、ASTM D1777-1996(2007)、JIS K6250-1997、JIS K6783-1994、JIS Z1702-1994、BS 3983-1989 、BS 4817 、TAPPI T411

技術參數(shù)