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寫真化學微型光纖探頭膜厚測厚儀
  • 寫真化學微型光纖探頭膜厚測厚儀
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貨物所在地:北京北京市

地: 日本

更新時間:2024-11-02 16:40:37

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寫真化學微型光纖探頭膜厚測厚儀,紅外透射膜厚度監測器可測量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。 它是一種紅外吸收涂層測厚儀,可應用于從實驗室級別到生產過程中的在線檢查的所有情況。
它是一種紅外薄膜測厚儀,采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學系統,可通過同時測量 100 多個波長的光譜儀,準確測量薄膜厚度、密度、成分等多個參數。

配置


    • 1

    • 測量半透明片材、
      低反射膜、硅等的厚度,這在光學干涉測量法中是困難的


    • 2

    • 微型光纖探頭

      由于使用了 30 毫米的小型反射探頭,
      它可以安裝在設備或生產線的狹小空間內。
      此外,由于探頭僅通過
      光纖連接到主機,因此具有出色的耐環境性。


    • 3

    • 高速測量:

      100 個點或更高處同時采樣 950~1650 nm 的近紅外波長

      可實現短至 1 毫秒的高速采樣。
      可以在生產線上進行實時檢測和測量。
      由于干涉濾光片不旋轉,因此具有出色的耐用性和可靠性。


    • 4

    • 厚度測量重復性:0.1% 或更低 (3σ)


    • 5

    • 兩種可選的測量算法

      測量算法校準樣品測量目標
      Beer-Lambert 法1 種僅厚度
      最小二乘回歸2 種或更多類型倍數(厚度、密度、特定成分的混合量等)


測量示例(鋰離子電池隔膜)

可以同時測量厚度和涂層重量。

測量示例(硅襯底上黑色光刻膠的膜厚)


長處

紅外透射膜厚度監測器可測量電池隔膜等半透明片材、黑色光刻膠等低反射膜和硅的厚度。 它是一種紅外吸收涂層測厚儀,可應用于從實驗室級別到生產過程中的在線檢查的所有情況。
它是一種紅外薄膜測厚儀,采用由緊湊型鏡面探頭組成的透射光學系統,可通過同時測量 100 多個波長的光譜儀,準確測量薄膜厚度、密度、成分等多個參數。


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