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日本SHINKO新光高精度電子天平AJⅡ-620高分辨率、高性能音叉式電子天平（天平），可用于研究、分析、質量檢查等廣泛用途。
日本SHINKO新光高精度電子天平AJⅡ-420高分辨率、高性能音叉式電子天平（天平），可用于研究、分析、質量檢查等廣泛用途。
日本SHINKO新光高精度電子天平AJⅡ-320高分辨率、高性能音叉式電子天平（天平），可用于研究、分析、質量檢查等廣泛用途。
日本SHINKO新光高精度電子天平AJⅡ-220高分辨率、高性能音叉式電子天平（天平），可用于研究、分析、質量檢查等廣泛用途。
日本SHINKO新光高精度電子天平RJ-12K高規格中級機器，配備音叉力傳感器，最小顯示1mg。
日本SHINKO新光高精度電子天平RJ-3200S高規格中級機器，配備音叉力傳感器，最小顯示1mg。
日本SHINKO新光高精度電子天平RJ-3200高規格中級機器，配備音叉力傳感器，最小顯示1mg。
日本SHINKO新光高精度電子天平RJ-1200高規格中級機器，配備音叉力傳感器，最小顯示1mg。
日本SHINKO新光高精度電子天平RJ-620高規格中級機器，配備音叉力傳感器，最小顯示1mg。
日本SHINKO新光高精度電子天平RJ-320高規格中級機器，配備音叉力傳感器，最小顯示1mg。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE15001R一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE6201R一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE3202R一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE2202R一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE1502R一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE623R一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE323R一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
日本SHINKO新光高精度電子天平ALE223R一種高性能、高通用性、高精度的精密電子天平（天平），非常適合研究、分析和質量檢驗。
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