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當前位置：天津瑞利光電科技有限公司>> SUMIX干涉儀MAX Quantum
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,汽車及零部件,電氣 |
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產品名稱：SUMIX干涉儀MAX Quantum
產品型號：MAX Quantum
產品介紹
MAX Quantum是一款自動化干涉儀，用于在單次掃描中檢查MTP/MPO、ST、FC、SC、LC、MU、E2000類型的單光纖和多光纖連接器以及MT、MT-RJ套圈。MAX Quantum提供同步端面幾何檢查、異常檢測和導向孔平行度和角度測量。該干涉儀具有高光學分辨率、自動聚焦和大視場，能夠測試每行16根光纖。
性能特點
l 高分辨率二維和三維表面剖面圖
l 自動對焦
l 異常檢測和幾何檢測相結合
l 快速測量
l 與創新的側視+前視夾具兼容
l MT16 和 MT32 檢測
l 數據庫連接
l MaxInspect 自動檢測軟件
l 符合行業標準
技術參數
產地：美國
測量技術：非接觸式；邁克爾遜干涉測量法
透鏡：NA = 0.22
照明器：綠色 LED（530 nm）
視場角：6.0 × 4.4 mm
橫向分辨率：1.47 μm
放大倍數：200 倍（數字變焦關閉）
對焦：自動和手動
圖像尺寸max：4096 × 3000 px
適合的連接器/插頭（PC 和 APC）：SC、FC、ST、LC、MU、E2000、MTP/MPO、MT16/32、MT-RJ、MT、SMA
顯微鏡模式：是
測量模式：相移和白光
測量范圍
ROC： 1 mm至平面
頂點偏移 ： 0 至 2000μm
光纖高度：1000 μm以上
角度測量 - 全量程： 0 至 28度
光纖高度：0.8 nm (MT12)；0.1 nm (SC/APC)
角度：0.005 度（MT12）；0.0002 度（SC/APC）
頂端偏移：0.04 μm（SC/APC）
光纖高度：1.1 nm (MT12)；0.4 nm (SC/APC)
角度：0.01 度（MT12）；0.006 度（SC/APC）
頂端偏移：1.0 µm（SC/APC）
溫度：+20°... +24°C
壓力：700 - 850 mm汞柱
濕度：5 - 75%，無冷凝
尺寸（高 × 寬 × 長）：181 × 213 × 117 mm（7.13 × 8.39 × 4.61 英寸）
重量：4.8 千克（10.6 磅）
電源：外置，USB 3.0 電纜，12 V 直流電源適配器
產品應用
單纖和多纖跳線
規格端子
激光切割帶狀光纖
開路裸光纖
裸環箍
大直徑光纖
平面拋光
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