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深圳市京都玉崎電子有限公司
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2024年
08月 -
【小王子新品上市】環境空氣采樣設備HV-CW 090130-1203
【小王子新品上市】環境空氣采樣設備柴田科學采樣儀HV-CW090130-12032024年8月13上新環境空氣檢測常規五項環境空氣檢測常規五項主要包括甲醛、苯、甲苯、二甲苯、總揮發性有機物(TVOC)。這些物質在室內環境中普遍存在，對人體健康有一定的影響。了解這些物質的來源和危害，有助于采取相應的措施來減少室內空氣污染，保護人體健康。甲醛來源：主要來源于裝修材料、家具、地板等。危害：長期接觸低劑量甲醛會引發慢性呼吸道疾病、月經紊亂、妊娠綜合癥等，嚴重時甚至可誘發鼻腔、口腔、咽喉、皮膚和消化道的癌【查看全文】
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2024年
08月 -
【小王子新品發布】京都玉崎上新粘度計SV-10A&D振動式粘度計SV系列是為粘度的精確測量而設計的，它為寬范圍的動力學和高分辨率的粘度測量提供了方便，它以大約等同于檢測系統的共振頻率的30赫茲的頻率振動。因此，SV-10可從0.3mPa.s到10,000mPa.s(SV-100從1000mPa.s到100,000mPa.s)極寬的動態測量范圍。并具備精確（重復性）穩定的連續測量。極寬的動態范圍使得從溶膠狀變為凝膠狀的觸變性液體的粘度變化過程測量成為可能，或在樹脂、膠狀物或油漆的生成過程中,使用傳【查看全文】
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2024年
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【小王子新品上市】夾具250AD-NAN-U、容器罐BHB-300
【小王子新品上市】夾具250AD-NAN-U、容器罐BHB-300儲罐夾套的作用?儲罐夾套的作用主要有以下幾點：保溫和冷卻：夾套通過在容器外壁加上一個外套，形成一個流通空間，可以在這個空間內通入導熱或冷卻介質，從而對容器內部的物料進行加熱或冷卻。這種設計使得儲罐能夠根據需要調節內部溫度，保持物料在特定的溫度范圍內。?12提高換熱效率：夾套的設計可以增加換熱面積，提高換熱效率。例如，全夾套設計通過內外筒體組焊在一起，形成2-7.5cm的流通空間，這種設計比半管夾套的換熱效率更高。?2增強設備穩定性【查看全文】
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2024年
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【小王子新品上市】BM-7AC分光輻射度色度亮度計#2024新品發布會#日期：2024年7月10日時間：08:00-15:30產品介紹：擁有接近分光輻射儀的色度精度。被用來當作測定FPD及光源的亮度?色度的標準測定機。為長銷產品BM-7系列的最新機種。本產品擁有高色度精度及能高速測定，物美價廉，在光源色度測定領域，適用于產線內測定及光源輸出調整等多種用途。此外，能和基準儀器分光輻射計SR系列，以及同類機型直接連接進行顏色補正，能長期提供安定的計測品質。(*1)±⊿:與基準值的差(*2)針對標準A【查看全文】
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2024年
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【玉崎新品上市】SEIKO電阻率計MCP-HT800#2024新品發布會#日期：2024年7月10日時間：08:00-15:30MCP-HT800簡介:測量對象:防靜電材料、建筑材料、瓷磚、纖維、各種用紙、包裝用材料、油漆、混凝土、陶瓷、塑膠、薄膜、玻璃等各種高阻性材料電阻特性用途:生產、質量控制、研究開發特點:1、測量范圍擴大到103--101402。可以測量導電和絕緣材料。2測試電壓從1~1000V，多達29個測試電壓點可供選擇:適合各種材料電阻之測量;可選擇自動電壓掃描測試功能。3、Ω、Ω【查看全文】
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2024年
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【玉崎新品上市】日東精工MCP-T710低阻電阻率計Loresta-GX1l是一款測量電阻率的測量儀器，電阻率是材料的評估標準之一。隨著科學技術的發展，研發、生產技術、質量控制等領域對材料快速、輕松管理的需求日益增長。其中，電阻率(表面、體積、電導率)是表示材料狀態和性質的指標。Loresta-GXl是一種可以使用校正系數輕松準確地測量申阻率的設備。該裝置采用符合JISK7194的測量方法,可以使用各種探頭測量導電塑料、ITO薄膜和硅晶片等多種材料。與傳統的4端子法不同,無需為測量對象準備電極,【查看全文】
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2024年
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【玉崎新品上市】表面拋光燈YP-150I山田光學YAMADA半導體用鹵素光源照明裝置YAMADA/日本YP-150I/YP-250I特點介紹高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。山田光學YAMADA半導體用鹵素光源照明裝置YAMADA/日本YP-150I/YP-250I規格參數1、可照亮樣品表面400,000Lx以上。2、【查看全文】
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【玉崎新品上市】鹵素光源照明裝置YP-250I山田光學YAMADA半導體用鹵素光源照明裝置YAMADA/日本YP-150I/YP-250I特點介紹高亮度鹵素光源裝置在半導體芯片及液晶基板加工是宏観観察用的照明設備，可検測各種缺陥如半導體晶片及液晶基板加工中最費人工的成形製品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。用于檢測各種缺陷的宏觀觀察用照明裝置檢查燈。山田光學YAMADA半導體用鹵素光源照明裝置YAMADA/日本YP-150I/YP-250I規格參數1、可照亮樣品表面400,000Lx以上【查看全文】
