1. 光譜特性和吸收強度（比爾-朗伯定律）
特定波長的紅外線具有被分子（原子）吸收的特性。 該波長吸收的波長取決于構成分子的原子及其鍵合狀態。
下圖是顯示紅外線在縱軸上的吸收（透射率）和橫軸上的波長（μm）的光譜特性圖示例。
它們代表不同的特性，例如吸水特性、溶劑、薄膜和油。
此外，這種吸收特性會根據物質的數量（厚度）而變強。
這用以下方程表示為 Lambert （Lumber）-Behr 定律。
衰減 ⊿I=-α?I?⊿t （α; 由吸收系數、物質和波長決定的常數） → dI=-α?I?dt 通過t（t=0~t）對兩邊進行積分 紅外線強度 I=I0?e^（-α?t）
Chino的紅外線水分和測厚儀利用紅外線的特性來吸收物質波長（官能團），測量物質中每種成分的含量，吸收量根據含量（厚度）而變化。
2. 傳感器的內部結構
水分和測厚儀的內部配置如下所示。
光源燈發出的光通過濾光片，僅選擇特定波長并照射物質。 照射的紅外線被測量目標（官能團）的振動吸收，衰減的反射光通過凹面鏡重新聚焦并入射到受光元件上。
此外，該濾光片隨電機旋轉，間歇照射不同波長的紅外線（脈沖波），接收到的紅外線由探測器元件轉換為電信號，將每個波長的數據數字化，并輸出吸光度信號。
3. 吸光度計算
我們的水分和測厚儀的吸光度輸出主要如下。
（2）雙波長比計算
吸光度
X = K2-λs/λr K1;兩個波長的歸一化常數 （≈1）：吸收波長 λs 和比較波長 λr
r（低吸收的參考波長）
（3）三波長比計算
使用
吸收波長λs和λr1和λr2的比較波長 吸光度
X = K1-λs/（α?λr1+（1-α）?λr2） K1; 歸一化常數 （≈1）， α; 波長權重常數 （0<α<1） <b12>
（3）多元回歸運算
由于船上紅外線的每個波長為λ1~λn，并且吸收特性呈指數級，因此取每個波長數據的對數，并通過以下公式計算
。
組件值：Y = a0 + a1 / Log （λ1） + a2 / Log （λ2） + ???an ? Log （λn）（
水分、厚度、溶劑等）
（2）中的雙波長比計算的優點是，通過取吸收量與參考波長的比值，減少作為干擾元素的干擾，例如外部光、測量距離、光路上的灰塵、表面條件的波動和其他光強度的絕對值。
此外，（3）中的三波長比計算是兩波長的高級類型，在樣品的表面條件、顏色和組分比例的差異方面具有很強的優勢（我們稱之為地球化差異）。
在這種基于比率計算的吸光度計算方法中，使用該吸光度進一步創建校準曲線，以計算所需的組分值。
在（2）中的多元回歸運算中，如果確定該方程的系數，則可以直接輸出得到的分量值。 這種多元回歸操作是一種在所需分量不由單一波動量（一個吸收波長）表示但受到多個元素（水分和厚度的吸收波長）影響（相互干擾）時，通過合并每個元素（波長數據）來獲得的方法，通常用于處理多變量時的統計數學處理。 為了找到這種多元回歸運算的系數，我們應用測量值并以正態方程組的形式找到它們。
此外，當同時測量多個組件時，通過將這種多元回歸計算的系數應用于每個組件，可以同時測量水分和厚度。
4. 校準曲線
它是根據 3 中 （2） 和 （99） 中 <> 中獲得的 <>（水分、厚度、μm、溶劑%等）的變化而增加或減少的變量，而不是組件本身的量。
需要校準曲線來確定獲得該吸光度值的組分數量。
校準曲線是在測量范圍內預先搖晃待測樣品，用濕度和厚度傳感器測量，然后通過最小二乘法（一種獲得減少誤差的回歸方程的方法）獲得吸光度值（X值）和實際測量數據而得到的公式。
<校準曲線數據>
基本上為每種類型創建校準曲線。 該傳感器最多可存儲 <> 條校準曲線，每次更改類型時都會切換校準曲線的通道。
附錄 1. 基于Lambert-Beer定律的校準曲線數據與吸光度值的關系
在上一節的標定曲線數據中，通過2~3階多項式方程得到的波長比計算1（3）得到的測量值Y與吸光度X值之間的關系。 另一方面，在朗伯特（木材）-比爾定律中，吸光度是通過對數對數運算獲得的（t = - （1/α） / Log（I） + β 當用厚度 t 求解時）。
下圖顯示了在厚度測量時，以基于Lambert（Lumber）-Beer定律的理論公式獲得的吸光度與使用本公司使用的“雙波長比計算"進行二階或三階回歸計算之間的關系。
此模型示例中圖中的紅色箭頭表示理論方程的誤差。
然而，在現實中，每個品種（批次）的測量范圍在一定程度上是確定的，通過在該范圍內進行詳細的回歸計算，可以將誤差降低到使用中沒有問題的程度。
此外，對于多元回歸計算，取每個波長數據的對數（Logλn），并使用相同的計算方法作為理論公式，因此回歸計算精度進一步提高。 
附錄 2. 關于平滑操作
我們的水分儀和測厚儀主要用于在線測量，但由于許多干擾、外部光線、測量距離、光路上的灰塵、表面條件的波動等，在線測量數據可能會成為令人沮喪的因素。 因此，我們執行以下算術處理，以消除這些干擾并實現穩定的測量。
