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XF-A5S^MC是西凡儀器推出的一款全新升級(jí)光路的X射線熒光光譜儀，可廣泛應(yīng)用于貴金屬產(chǎn)業(yè)鏈、電鍍產(chǎn)業(yè)鏈、寶石產(chǎn)業(yè)鏈等行業(yè)。該產(chǎn)品搭載美國AMPTEK定制Si-PIN探測(cè)器，配備雙準(zhǔn)直器，內(nèi)置Intel 十核CPU工控電腦，支持Smart FP算法，創(chuàng)新性應(yīng)用西凡第二代X射線與可見光共焦點(diǎn)垂直光路，其可獲得更小的實(shí)際照射焦斑。能夠精準(zhǔn)分析貴金屬成分、寶石成分、鍍層厚度和離子濃度等，檢測(cè)速度快，測(cè)試穩(wěn)定性好、準(zhǔn)確性高，性價(jià)比高。