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貴金屬檢測儀XF-S7產品介紹

XF-S7貴金屬成分無損檢測儀是西凡儀器面向貴金屬成分無損檢測的一款高配置X射線熒光光譜儀，可廣泛應用于珠寶首飾工廠、展廳以及回收、銀行、海關、檢測中心等行業和單位。該產品采用目前進口Fast-SDD探測器，自帶IPS液晶屏及電容觸摸屏，內置四核CPU定制XRF工控電腦，采用全新的垂直光路。檢測速度快，測試穩定性好、準確性高。

貴金屬檢測儀XF-S7產品特點

元素檢測范圍：鉀K～鈾U          

可支持最多30個元素同時計算

分析范圍：0.01%～99.99%

檢測精度：±0.01%(999金)

檢測樣品：固體/液體/粉末

定制TCP/IP協議API接口，支持外網對設備的控制、狀態監控及數據采集

支持多點連續測試，測試效率高

內置ARM四核XRF專用電腦+Linux系統，無懼木馬和病毒軟件

9.7寸IPS液晶屏+電容觸摸屏

多準直器自動切換

多濾光片自動切換

軟件對焦樣品測試高度，算法補償測試距離

?0.5mm準直器支持凹位樣品檢測

選裝10工位轉盤，自動連續測試10個樣品

貴金屬檢測儀XF-S7產品規格

輸入電壓：AC100～240V，50Hz

產品包裝尺寸：770mm x 510mm x 400mm

產品尺寸：455mm x 345mm x 350mm

樣品艙尺寸：306mm x 248mm x 124mm

額定功率：<150W

毛重：53KG

凈重：38KG

噪音：50dB

使用環境：

溫度：

濕度：<70%（不結露）

貴金屬檢測儀XF-S7核心部件

探測器：AMPTEK定制版Fast-SDD探測器

內置工控電腦：NXP IMX8四核Cortex-A53 XRF專用電腦

高壓電源：50KV/1mA數字高壓電源

X射線管：50KV/1mA

窗口材料：鈹窗

靶材：鎢

焦點：? 0.1mm

準直器：?0.5mm/ ?1.5mm

貴金屬檢測儀XF-S7檢測實例