XF-S8貴金屬檢測儀是西凡儀器針對貴金屬行業(yè)推出的一款專用檢測萬足金的旗艦X射線熒光光譜儀，支持貴金屬成分檢測和液體濃度檢測，可廣泛應用于珠寶首飾工廠、實驗室、檢測站和回收等行業(yè)和單位。該產品采用美國AMPTEK定制Fast-SDD探測器，內置十二核工控電腦，采用X射線與可見光共焦點光路設計和全新的Smart FP算法。檢測速度快，測試穩(wěn)定性好、準確性高，適用范圍廣。

產品特點

元素檢測范圍：鋁(13)～鈾(92)

可支持最多30個元素同時計算

鍍層報警、錸鎢檢測報警

可支持寶石人工/天然分析

分析范圍：

貴金屬：0.0010%～99.9999%

鍍層：0.001um~80um

液體：5mg/L~200g/L

檢測精度：

貴金屬：±0.001%(99999金)

鍍層：RSD≤1.5%

液體：RSD≤1.5%

檢測樣品：貴金屬合金/鍍層/寶石/液體

支持多點連續(xù)測試，測試效率高

三準直器，多濾光片自動切換

遵守ISO3497及ISO3497標準

支持連接天平采集重量數(shù)據以及獲取黃金實時牌價計算價格

支持自動計算多結果的平均值和RSD

測試案例