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光學晶圓缺陷YP-150ID瑕疵現貨光源HPS-150
光學晶圓缺陷YP-150ID瑕疵現貨光源HPS-150
產 品 特 點
1. 大于 400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
2. 使用鹵素燈作為光源，色溫高達3400K，照光和顏色均一了穩定強光的照射。
3. 由于冷鏡的使用，使得熱影響與常規鋁鏡相比較少1/2 到 1/3
4. 光束直徑由鏡片調整30-50mm 之間調整
5. 底部開光，調整照明勘察器高度，操作簡便，可控制光量
高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測
最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移等，是工件加工過程中勞動強度最大的部分。半導體晶片和液晶基板
YP-150I 照度范圍：30mmφ
YP-250I 照度范圍：60mmφ
超精密平面檢測的理想選擇！通過驚人的照明，可以檢測小于 0.2 μm 的缺陷。
YP-150I"是一種用于顯微觀察的照明裝置，用于檢測
最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧度、滑移等，是半導體加工過程中勞動強度的一種。晶圓和液晶板
另外，由于采用鹵素燈作為光源，色溫高，
光照不均勻的情況很少，光照***穩定銳利。
姊妹機“YP-250I"也可用于 8 英寸。
光源采用鹵素燈
■ 可以將樣品表面照射到400,000 Lx或更高
■ 熱量的影響降低到傳統鋁鏡的1/3
■ 高照度觀察和低照度觀察可一鍵切換
請用于超精密平面檢測！
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