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　　首先，從景深的角度來看，光學顯微鏡的景深相對較淺，通常在2-3um之間。這意味著在觀察樣品時，只有很薄的一層樣品表面能形成清晰的圖像，對樣品的表面平滑度要求很高。而SEM掃描電鏡的景深則要大得多，可以達到幾毫米。這一特性使得SEM能夠觀察樣品表面不同深度的形態結構，對樣品表面的幾何形狀和光滑程度要求較低，樣品的準備也相對簡單。

 

　　其次，在放大倍數方面，光學顯微鏡的放大倍數雖然可以通過更換物鏡和目鏡來實現一定的調節，但總體上仍然有限，一般在幾十到幾百倍之間。而電鏡的放大倍數則可以達到數萬到數十萬倍，甚至更高。這使得SEM能夠觀察到更細微的結構和細節，為科學研究提供了更高的精度和深度。

 

　　最后，從分辨率的角度來看，光學顯微鏡由于光的干涉和衍射作用，其分辨率只能限制在0.2-0.5um之間。而電鏡則使用電子束作為光源，分辨率可以達到納米級別，通常在1-3nm之間。這種高分辨率使得SEM能夠觀察到更微小的結構和細節，為材料科學、生物醫學等領域的研究提供了重要的技術支持。

 

　　綜上所述，SEM掃描電鏡在景深、放大倍數和分辨率方面相較于光學顯微鏡具有顯著的優勢。這些優勢使得SEM在材料科學、生物醫學、地質學等領域的應用越來越廣泛，成為現代科學研究重要工具。