Spectra ETEM 環(huán)境透射電子顯微鏡相對于前幾代ETEM平臺的主要更新如下:
01 遠程操作平臺，使科研人員進一步免于氣體危害。
02 配備有單色器的超亮熱場場發(fā)射電子槍，可簡便準確地控制電子劑量。
03 搭配雙球差校正器，進一步拓展環(huán)境透射電鏡的表征能力。
04 進一步優(yōu)化氣體控制系統(tǒng)，搭配了3個不同的氣體入口，并可預設分壓。
05 極靴內無窗高壓氣氛環(huán)境，可在S/TEM模式提供最佳襯度和分辨率。
06 出色的 ETEM 真空系統(tǒng)與大極靴設計，兼容大角度雙傾桿與種類豐富的原位樣品桿。
07 非ETEM模式（高真空模式）下可達到常規(guī)Spectra球差校正平臺的性能指標。
08 兼容各種全新表征硬件與技術:Panther STEM iDPC EMPAD Ceta-S Falcon 4i......
生產合適的材料并做出正確的設計選擇對于解決諸如開發(fā)更安全和更持久的電池，創(chuàng)建更輕的材料以提高能效以及構建更快，更高容量的計算機處理器或存儲設備等挑戰(zhàn)至關重要。Spectra非常適合需要在原子水平上表征各種材料的學術或工業(yè)實驗室的研究人員。它允許他們制造輕質材料，如先進鋼，鋁合金或塑料，用于開發(fā)更安全或更省油的運輸。Spectra還支持新半導體結構和材料的研究，為未來的高性能電子器件提供必要的構建模塊。
Spectra新的檢測功能，使科學家和工程師能夠獲得以前難以獲得的原子級數(shù)據(jù)，以滿足更廣泛的應用需求。該平臺可以獲得極其光束敏感的材料和半導體結構的詳細圖像，包括金屬有機框架，沸石和聚合物，如果暴露在電子束中太長時間或在錯誤的電壓下可能會損壞或破壞。它還滿足了使用EDX（能量分散X射線）或EELS（電子能量損失光譜）等多種方式對大量原子級化學分析的不斷增長的需求。
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