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用途：

INSPECT系列測量金相顯微鏡適用于半導體封裝、焊接貼片、環路高度、FPD面板（LCM）、晶片級CSP等領域。

儀器特點：

■ 高精度大理石底座和立柱、有效保證高的穩定性及剛性

■ 大理石工作臺設計、配合精密V型交叉導軌、長久使用不會變形，有效保證高的機械精度

■ 高品質光學系統和高分辨率CCD，確保擁有高品質的測量畫面

■ 三環八區LED環形表面冷光源及輪廓光源、避免燈光發熱而影響精密工件的變形

■ 可選配日本尼康原裝傾斜三目鏡筒+五段變倍鼻輪

■ 自主研發影像測量儀軟件、功能強大、操作簡單 

INSPECT系列測量金相顯微鏡技術參數：