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DPTS-RT-600高溫介電阻抗溫譜測試系統適用于電介質材料阻抗譜、頻譜掃描的測試。系統軟件將高溫測試箱、高溫測試夾具、多通道切換器、阻抗分析儀等設備無縫連接，測量在不同溫度、不同測試頻率下電容(C)、阻抗(Z)、相位角(θ)、損耗(D)等參數，通過計算獲得復阻抗、電模量等參數，直接得出材料的阻抗頻譜、阻抗溫譜、電模量、Cole-Cole等圖譜，一次測量，同時輸出，測量效率高，數據圖標豐富多樣。

配置的高溫測試箱，以電阻絲為加熱元件，采用K型熱電偶和可編程溫度控制器。爐膛采用高質量氧化鋁微晶體纖維材料，可連續工作在600℃，控溫精度±1℃；同時設有通氣接口，可用于惰性氣體下使用。具有體積小、重量輕、溫度場均衡、升降溫速率快等優點。

配置的高溫測試夾具，內置1～5根高溫測試探針，測試時，系統軟件控制多通道切換器分時復用阻抗分析儀，實現 5個通道同步、同環境對比電性能測試，提高測試效率。

高溫測試夾具作為高溫介電溫譜儀易損易耗的部件，本系統的高溫測試夾具通過快速拔插連接器實現與系統連接，易拆易裝，同時有利于高溫測試探針的日常維護。

產品優勢：測量精度高，控溫準，測量頻率寬，抗交流干擾；

系統軟件擁有完善的測量和分析功能，直接得出介電常數與溫度的介電溫譜；不同溫度下進行頻率掃描，直接得出介電常數的頻譜、阻抗譜、電模量、 Cole-Cole圖；集測量、分析、圖標顯示于一體集成化設計。

先后有華中科技大學、湖北大學、華中科技大學溫州院、河北大學、香港城市大學等用戶使用選購高溫介電阻抗溫譜測試系統，已助力用戶在CHEM ENG J、J MATER CHEM A、J EUR CERAM SOC、CERAM INT等國內外*期刊發表優秀論文。