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徠卡偏光顯微鏡DM4P的介紹
用于各種專業的偏振光觀察,例如:巖相學、礦物學、地質結構特性,液晶檢驗；徠卡偏光顯微鏡是您的z選擇。并且將讓您體會到顯微鏡操作的方便,可靠、方便的操作減輕了您的工作壓力,使您能夠把注意力集中在樣品的觀察上。
產品簡介
詳細介紹
獲得結果
您需要一些組件來實現偏光研究目標。以下都是最重要的組件：
無應力光學部件，因為您需要確保觀測到的雙折射來自樣品而非光學部件
LED 照明至關重要，因為這種照明能夠均勻照亮樣品，并具有恒定的色溫
偏光鏡幫助您看到雙折射，旋轉臺幫助您對準樣品和光軸
您還需要用于對光軸進行錐光觀察的勃氏鏡和用于測量任務的補償器
Leica DM4 P：服務唾手可得
如果您想在偏光顯微鏡下進行各種操作，可以使用 Leica DM4 P。
通過編碼組件存儲和調用信息
想要更換物鏡時，可通過照明強度控制和對比度管理器調用照明強度和光闌的設置。
得益于編碼物鏡轉盤的存在，攝取的圖像始終得到校準。
辨識感興趣的結構
25-mm 大視場為您帶來的概覽圖像。
為您展現所需具體信息的往往是低放大倍率，而不是細節圖 — 想想流動結構、變形結構或冷卻過程造成的帶狀排列結構。
讓物鏡轉盤來應對！
采用配備 6 個物鏡并具有不同放大倍率的物鏡轉盤，獲取豐富的樣品信息。
使用 2.5 倍概覽物鏡可識別樣品中的宏觀結構
如要借助錐光法對光學屬性進行詳盡研究，可切換為 63 倍放大倍率
切換至 100 倍可以沿顆粒邊界檢驗相反應
而且物鏡轉盤也是編碼的，可為您提供智能支持。
兩種照明物盡其用
您可以將 Leica DM4 P 配置為 LED 照明使用透射光或入射光，或者也可以一次性將其配置為使用兩種光源。
進行反射率測量時必須使用入射光，例如觀察礦石或煤炭。
進行雙折射測量時則需要使用透射光，例如檢測地質薄片、聚合物薄膜或藥品。
在地質研究等特殊應用中，兩種光。
當顯微鏡配置為使用入射光和透射光兩種光時，相關物鏡 (帶或不帶蓋玻片校正功能) 應從 >10 倍的放大倍率開始使用。
您的選擇：Leica DM4 P
借助編碼的功能性，可靈活適應各種任務，操作安全簡單，適用于學術研究、操作新手或多用戶
環境
6 位編碼可調中物鏡轉盤
照明和對比度管理，獲得可再現結果
編碼錐光法，采用 1.6 倍放大倍率調節器
LED 照明
狀態顯示
360° 旋轉臺，帶或不帶 45° 卡位裝置
無應力光學部件
偏振設備范圍廣泛
固定或可變補償器，符合 DIN 58879