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X射線鍍層測厚儀XULM 240
硬件：用于鍍層厚度測量和材料分析的X-射線熒光測量系統。
配備微聚焦射線管，手動X-Y軸工作臺，
4個電機驅動的視準器組，
尺寸分別為：
圓形直徑0.1/0.2方形0.05×0.05mm
和槽型0.03×0.2mm。
配備3種可切換的濾波器，
以達到*佳的測量靈敏度。
X-射線由下往上。
高清晰度彩色攝像頭。
計算機系統：
英特爾處理器，預裝Win10
以及WinFTM測量軟件
19英寸彩色液晶顯示器
12純元素片：
(Ag,Cu,Fe,Ni,Zn,Zr,Mo,Sn,W,Au,Pb,Cr)
儀器安裝：維修工程師現場安裝調試與培訓。
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