FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列熒光鍍層測厚儀引見：

       多用處的鍍層厚度丈量儀。無論是薄的還是厚的鍍層（如50 nm Au或100 μmSn）都經(jīng)過選擇好的高壓濾片組合很好地丈量。微聚焦管能夠到達在很短的丈量間隔內(nèi)小到100 μm的丈量點大小。高達數(shù)kcps的計數(shù)率能夠被比例接納器接納到。關(guān)于FISCHERSCOPE®X-RAYXUL和XULM系列來說，X射線源和接納器位于丈量室的下方，這樣能夠快速便當?shù)囟ㄎ粯悠贰３艘酝猓曨l窗口也能夠輔助定位，儀器前方的大控制臺簡化了操作，特別是在日常消費中丈量大量部件時特別有用。雖然構(gòu)造緊湊，但這些儀器都有大容量的丈量室，這樣大的物品也能夠丈量。殼體的開槽設(shè)計（C型槽）能夠丈量諸如印刷線路板類大而平整的樣品，即便這些樣品可能無法*放入丈量室，樣品直接放置在平整的支撐臺上，或者定位精度更高的手動XY工作臺上。

XULM 240介紹：

       XULM適合測量小的結(jié)構(gòu)。它配備了微聚焦管，測量點小可達約100μｍ，同時比例接收器仍然可以保持相對高的計數(shù)率。即使很短的測量時間也可以達到很好的重復精度。此外，XULM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創(chuàng)造佳的激勵條件。