Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度儀介紹

SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度儀是英國泰勒公司 新型粗糙度儀,SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測 Ra , Rz 兩種參數(shù)。Surtronic DUO泰勒霍普森粗糙度儀具有紅外接口可在距離被測物 1 米處進行測量。
SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度儀新型粗糙度儀通過儀器底部傳感器直接接觸被測工件進行測量,其設計可滿足不同的技術(shù)與工作環(huán)境要求。
SURTRONIC DUO泰勒霍普森粗糙度儀新型粗糙度儀快速測量 在儀器底端接觸工件瞬間,即可讀出測量值。全部操作步驟僅需簡單教授即可

Surtronic Duo泰勒霍普森粗糙度儀是一種高級便攜式表面粗糙度測量儀，只需按一鍵即可測量多個粗糙度參數(shù)。這些參數(shù)（如Ra、Rz、Rp、Rv和Rt）會顯示在直觀的2.4英寸LCD彩色屏幕上。使用充電電池，便于在所有環(huán)境和表面進行快速、輕松和精確的現(xiàn)場測量。
測量原理
通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機動驅(qū)動裝置，確保行進正確的水平距離。當測針劃過波峰和波谷時，高感應度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動，然后將機械移動轉(zhuǎn)化為電子信號。電子信號將進行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標準化算法即時計算表面粗糙度參數(shù)。