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X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
費希爾庫倫法測厚儀Couloscope CMS2地測量范圍在0.05 - 40 µm （0.002 - 1.6 mils）之間的金屬鍍層。菲希爾庫倫法測厚儀該設備可以存儲上百條預先定義好的鍍層/基材應用，從單鍍層，例如鋅在鋼上，直至三鍍層，例如鉻層在鎳層再在銅層或塑料上。
菲希爾測厚儀Fischer Couloscope CMS2
菲希爾庫倫法測厚儀Couloscope CMS2測量原理
這個系列儀器根據DIN EN ISO 2177標準的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層，通過在控制電流條件下電解腐蝕——實際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的，假如電流和剝離面積保持不變，鍍層厚度與電解時間就是成正比的關系。
測量槽——可比作微型電解缸——被用來剝離鍍層。 測量面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定。對不同的金屬采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由COULSCOPE儀器的電子部分控制， 用一個泵攪拌電解液來使電解區域電解液平穩腐蝕，保證電解液最佳利用。 根據測量區域的大小，各種直徑的墊圈 可供選擇。
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