• 測試平臺：精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

• 探測器：Si-Pin探測器

• 工作原理：利用x射線對金屬表面進行激發，檢測熒光強度來換算成金屬表層的厚度的儀器

• 準直器大小：φ0.1mm的小孔準直器

• 溫度要求：15℃至30℃。

• 電源：交流220V±5V 建議配置交流凈化穩壓電源

• 外觀尺寸：576(W)×495(D)×545(H) mm

天瑞儀器專業從事光譜膜厚儀（鍍層/涂層/氧化膜等）測厚儀器的銷售業務及維修服務，天瑞THICK 800A鍍金膜厚儀俗稱鍍層測厚儀，膜厚測試儀，X-RAY膜厚儀等等， 主要檢測金屬鍍層膜厚厚度的儀器，保證鍍層厚度品質，減少電鍍成本浪費。此儀器特別適合于小的鍍層測量，如端子，連接器，細小的金線，在五金，汽車配件．線路板．衛浴，等行業．也有杰出的表現．可測量．單層．雙層，合金層等多種鍍層

鍍層厚度測試儀測試方法

金屬和塑膠的混合樣品應如何測試？

答： 盡可能拆分到均勻介質,既金屬和非金屬分開放在不同工作曲線測量.

• 與SGS對比差異的產生？答： 因為XRF是屬于物理方法，是表面測試儀器.而SGS是采用化學方法,使用試劑溶解測試.從測試原理來講，這兩種方法是存在差異的，另外采用的檢測設備是不同的，所以檢測結果有可能會產生差異。尤其是一些電鍍元器件和不均勻材質更為明顯。SGS也使用制樣來消除材料不均勻而造成的測量誤差。

• 樣品不能保證測試所需的平面光滑，應如何測試？答： 樣品的幾何形狀對測試結果可能會有影響，一般選擇比較平整的部分進行測試，在軟件的算法上作了一定的處理，盡可能的降低了樣品幾何形狀不規則造成的負面影響。

• 不同曲線中峰的選擇和邊界選取？答： 工作曲線的建立和感興趣元素邊界的劃分相對比較復雜，對操作者的專業知識要求較高，需要經過長期系統的培訓才能掌握，并且曲線中的峰邊界相對比較固定，選定后不能隨意改動，為保證儀器數據的準確性和安全性，一般由我司技術人員制作和修改。

• 能量值相近，疊加峰的問題如何解決？

  答：  主要依靠對各個元素譜型的熟悉來分析，一般來說S到Sn之間的元素受激發釋放出的為K線，就是一個比較高的主α峰后邊帶一個比較低的β峰。Sn以后的元素受激發釋放出的L線，一般有兩個等高或者高度相當的峰同時出現，在一個峰被疊加峰影響后可其它峰譜是否出現，沒有出現則說明為疊加峰影響，反之就不是。處理辦法參考問題8答案。

• 參數規格

• 1   分析元素范圍：K-U

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  2   同時可分析多達5層以上鍍層

  3   分析厚度檢出限達0.005μm

  4   多次測量重復性可達0.01μm

  5   定位精度：0.1mm

  5   測量時間：30s-300s

  6   計數率：1300-8000cps

  7   Z軸升降范圍：0-140mm

  8   X/Y平臺可移動行程：50mm(W)×50mm(D)

  性能特點

  1 滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求

  2 φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

  安裝要求：

  1   環境溫度要求：15℃-30℃

  2   環境相對濕度：<70%

  3   工作電源：交流220±5V

  4   周圍不能有強電磁干擾。

鍍層厚度測試儀