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Vasco Kin原位時間分辨納米粒度分析儀
l 粒度測量范圍 : 0.5nm 到 10µm
l 背向動態光散射原理，實時遠程非接觸測量
l 監測納米顆粒合成過程；監測整個過程的粒度變化情況，有助于穩定性研究
l 全自動非接觸測量：能穿透玻璃和塑料針管，測定包裝物及反應釜中的粒度分布和隨時間的變化
產品簡介
詳細介紹
Vasco Kin原位時間分辨納米粒度分析儀
l 粒度測量范圍 : 0.5nm 到 10µm
l 背向動態光散射原理，實時遠程非接觸測量
l 監測納米顆粒合成過程；監測整個過程的粒度變化情況，有助于穩定性研究
l 全自動非接觸測量：能穿透玻璃和塑料針管，測定包裝物及反應釜中的粒度分布和隨時間的變化
l 適用樣品濃度：0.1ppm-40%（w/v）
l 時間分辨: DLS的分辨率為0.2s，用于動力學監測
l 隨時間變化的粒度分布彩色地形圖
l “時間切片"功能：用戶對測試后數據可進行任意時間段內的粒度分析
l 樣品前處理：無需樣品前處理，直接測試
原位時間分辨納米粒度分析儀