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潤濕比表面分析儀
Xigo Area是基于NMR弛豫時間專li技術（美國專li7,417,426, 2008）的潤濕顆粒比表面的分析儀器，它所采用的原理是基于這樣一種現象：即與顆粒表面結合的液體比自由或散裝液體的弛豫時間要短得多。
產品簡介
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潤濕比表面分析儀
Xigo Area是基于NMR弛豫時間專li技術（美國專li7,417,426, 2008）的潤濕顆粒比表面的分析儀器，它所采用的原理是基于這樣一種現象：即與顆粒表面結合的液體比自由或散裝液體的弛豫時間要短得多。
l 基于核磁共振（NMR）原理，對懸浮液狀態下納米和微米顆粒進行比表面分析
l 測量弛豫時間T2和T1，整個過程從開始到結束只需5分鐘。
l 儀器功能：潤濕比表面積；弛豫時間T1/T2；T2時間掃描
l 可直接對中間體或配方原濃懸浮液樣品進行直接地測量，對樣品的分散性、浸潤性或納米顆粒的表面修飾，都是一種理想的表征手段。
l 應用領域：陶瓷漿料、電子漿料、導電油墨、碳基油墨、銅-鉑鹵菁、銀漿、燃料電池、催化劑、炭黑、碳納米管、納米石墨、石墨烯等材料及制藥領域
l 可進行連續流動測定或在線測定