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目錄:沈陽科晶自動化設備有限公司>>實驗室檢測及分析儀器>>膜厚儀>> TF200薄膜厚度測量系統

TF200薄膜厚度測量系統
  • TF200薄膜厚度測量系統
  • TF200薄膜厚度測量系統
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具體成交價以合同協議為準
參考價 面議
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  • 品牌 其他品牌
  • 型號
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 沈陽市
屬性

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更新時間:2023-07-20 15:09:23瀏覽次數:2350評價

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產地類別 國產 應用領域 化工,石油,地礦,能源,綜合
TF200薄膜厚度測量系統利用薄膜干涉光學原理,對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。TF200薄膜厚度測量系統根據反射回來的干涉光,用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。

產品名稱

TF200薄膜厚度測量系統

產品型號

TF200-VIS

TF200-EXR

TF200-DUV

TF200-XNIR

主要特點

快速、準確、無損、靈活、易用、性價比高

應用領域

半導體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)

LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

LED (SiO2、光刻膠ITO等)

觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)

汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)

醫學


波長范圍

380-1050nm

380-1700nm

190-1100nm

900-1700nm

厚度范圍

50nm-40um

50nm-300um

1nm-30um

10um-3mm

準確度取決于材料0.4%或2nm之間取較大者

2nm

2nm

1nm

10nm

精度

0.2nm

0.2nm

0.2nm

3nm

入射角

90°

90°

90°

90°

樣品材料

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

透明或半透明

測量模式

反射/透射

反射/透射

反射/透射

反射/透射

光斑尺寸可選微光斑附件。

2mm

2mm

2mm

2mm

是否能在線

掃描選擇

XY可選

XY可選

XY可選

XY可選


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