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霍爾遷移率測試儀
  • 霍爾遷移率測試儀
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貨物所在地:江蘇蘇州市

更新時間:2024-10-14 10:21:21

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可用于半導體組件性能表征,包括:遷移率,電阻率,載流子濃度和霍爾常數

“碳化硅的電子遷移率是900,碳化硅MOSFET的溝道遷移率是50,體遷移率是1000" 看到這樣的介紹,或許你非常疑惑,為什么同一種材料中有這么多的遷移率?我們在聽講座或者看相關文獻的時候,也經常會遇到不同的遷移率:霍爾遷移率,漂移遷移率,溝道遷移率,體遷移率等等。這里,就讓我來為大家具體分析一下這些不同的遷移率。大體上來說,遷移率的概念可以分為三種:1. 最基礎的遷移率定義(microscopic mobility); 2. 體材料里的遷移率(根據不同的測試方法得出不同的遷移率名稱); 3. 晶體管中的遷移率。

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