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一文了解半導體掃描電子顯微鏡
閱讀：540 發布時間：2023-2-13
掃描電鏡全稱為掃描電子顯微鏡（Scanning Electron Microscope，簡稱SEM），被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。
掃描電子顯微鏡（SEM）主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態，即用極細的電子束去掃描樣品，通過探測由入射電子轟擊樣品表面激發出來的電子信號，達到對物質微觀形貌的表征。掃描電子顯微鏡可以觀察到半導體材料的形貌特征，也可以通過觀察材料在循環過程中發生的形變，判斷其對應的循環保持能力。
掃描電子顯微鏡SEM應用范圍：
1、材料表面形貌分析，微區形貌觀察
2、各種材料形狀、大小、表面、斷面、粒徑分布分析
3、各種薄膜樣品表面形貌觀察、薄膜粗糙度及膜厚分析
Epoxy Technology Inc產品廣泛用于半導體、光電、光通訊、醫學、汽車、航天航空、航空電子設備、以及電子裝配市場。
掃描電子顯微鏡（SEM）中鍍鋁膜的玻璃鏡片與鋁金屬底座之間的導電粘接，推薦H20E導電膠，產品可適應真空環境下使用，滿足低益氣，粘接強度牢固，耐震動沖擊測試等。